熒光屏余輝在高幀頻速光子計(jì)數(shù)等系統(tǒng)應(yīng)用中起著決定性作用。GJB 7 351-2011《超二代像增強(qiáng)器通用規(guī)范》熒光屏余輝試驗(yàn)方法中規(guī)定光脈沖作為激勵(lì)源,該方法中光脈沖激勵(lì)源停止后光源照度下降緩慢,造成在短余輝粉（μs級(jí)）和中余輝粉（ms級(jí)）的余輝時(shí)間測(cè)量中測(cè)試結(jié)果不準(zhǔn)。針對(duì)該問題,提出了一種在光照持續(xù)工作狀態(tài)下,用光電陰極電壓脈沖信號(hào)作為激勵(lì)源的熒光屏余輝測(cè)試方法,該方法中光電陰極超快響應(yīng)時(shí)間（一般為1 ns左右）和脈沖電壓信號(hào)的較短邊沿時(shí)間（一般可控制在10 ns以內(nèi)）特性改善了激勵(lì)源自身時(shí)間響應(yīng)對(duì)熒光屏余輝測(cè)試結(jié)果準(zhǔn)確性帶來(lái)的影響。基于該方法建立了一套微光像增強(qiáng)器熒光屏余暉測(cè)量裝置,對(duì)P31熒光粉的國(guó)產(chǎn)三代微光像增強(qiáng)器余輝進(jìn)行了重復(fù)性測(cè)量,對(duì)測(cè)量不確定度進(jìn)行了誤差分析,其擴(kuò)展不確定度為3.2%,達(dá)到了傳統(tǒng)光電測(cè)試儀器的準(zhǔn)確度要求,可滿足微光像增強(qiáng)管熒光屏余輝測(cè)量的要求。該研究成果為更高性能產(chǎn)品提供了一種檢測(cè)手段。 

【文章來(lái)源】：應(yīng)用光學(xué). 2020,41(04)北大核心

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【參考文獻(xiàn)】：
期刊論文
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