InZnO基雙有源層TFT的研制
發(fā)布時間:2020-12-08 14:12
近年來,金屬氧化物薄膜晶體管(Thin Film Transistor,TFT)作為TFT-LCD和AMOLED的半導體開關(guān),以其較高的遷移率,大面積均勻性,可見光范圍內(nèi)透光率高得到了越來越多的關(guān)注。研究者們對InZnO(IZO)基TFT進行了廣泛的研究,其中IZO:N TFT和IZO:Li TFT的遷移率可分別高達39.3 cm2V-1S-1和80.4 cm2V-1s·-1,但它們的退火溫度都高達950°C。過高的退火溫度使得制備成本太高不利于工業(yè)生產(chǎn)。為了降低制備IZO基TFT的退火溫度,我們嘗試制備IZO基雙有源層TFT。與探尋新有源層材料相比,改變TFT的有源層結(jié)構(gòu)是一種具有戰(zhàn)略意義和實用價值的方法。主要研究工作如下:1、在氧氣氣氛中退火溫度為120℃的條件下,用磁控濺射的方法制備了雙有源層IZO:Li/InZnSnO(IZTO)TFT,分別研究了雙有源層結(jié)構(gòu)中靠近柵絕緣層的下層IZO:Li薄膜厚度和靠近源漏鋁電極的上層IZTO薄膜厚度對IZO:Li/IZTO TFT電學性能的影響。2、用磁控濺射的方法制備了 IZO:N/IZTO TFT。首先,在退火氣氛為氧氣的條件下,研究了...
【文章來源】:北京交通大學北京市 211工程院校 教育部直屬院校
【文章頁數(shù)】:53 頁
【學位級別】:碩士
【部分圖文】:
圖1-2?TFT-LCD亞像素等效電路原理圖??Figure?1-2?Schematic?diagram?of?subpixel?equivalent?circuit?of?TFT-LCD??
圖2-1雙有源層lZO:Li/IZTOTFT的結(jié)構(gòu)示意圖??Figure?2-1?Structural?diagram?of?the?double?active?layer?!ZO:Li/lZTO?TFT??雙有源層IZO:Li/IZTO?TFT的結(jié)構(gòu)如圖2-1所示。首先使用射頻磁控派射在??Si02/p-Si襯底上沉積IZO:Li/IZTO薄膜,其次使用恒溫程式管式爐對石英管中的??IZO:Li/IZTO薄膜樣品在氧氣氣氛下進行120?°C的退火處理。退火30?min后再用真??空蒸鍍的方法給IZO:U/IZTO薄膜樣品鍍A1電極。將制備完成的IZO:Li/IZTO?TFT??使用Keithley?SCS-4200半導體性能測試儀對其性能進行測試。詳細的制備過程如??下:??(1)襯底的選擇與清洗??本論文中使用p-Si?(p<0.0in?cm)作為TFT的襯底,在襯底上通過熱氧化生??成一層200?nm的Si02作為TFT的絕緣層。在濺射沉積有源層之前,先對切割好的??9??
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【參考文獻】:
期刊論文
[1]金屬氧化物薄膜晶體管最新研究進展[J]. 王春蘭,李玉慶,韓莎,姚奇,高博. 紡織高;A(chǔ)科學學報. 2018(04)
博士論文
[1]新型金屬氧化物薄膜晶體管的性能研究及工藝開發(fā)[D]. 羅東向.華南理工大學 2014
碩士論文
[1]IGZO薄膜性能的研究及改善[D]. 湯猛.江南大學 2017
[2]金屬氧化物薄膜和晶體管的制備與性能研究[D]. 譚惠月.青島大學 2015
本文編號:2905219
【文章來源】:北京交通大學北京市 211工程院校 教育部直屬院校
【文章頁數(shù)】:53 頁
【學位級別】:碩士
【部分圖文】:
圖1-2?TFT-LCD亞像素等效電路原理圖??Figure?1-2?Schematic?diagram?of?subpixel?equivalent?circuit?of?TFT-LCD??
圖2-1雙有源層lZO:Li/IZTOTFT的結(jié)構(gòu)示意圖??Figure?2-1?Structural?diagram?of?the?double?active?layer?!ZO:Li/lZTO?TFT??雙有源層IZO:Li/IZTO?TFT的結(jié)構(gòu)如圖2-1所示。首先使用射頻磁控派射在??Si02/p-Si襯底上沉積IZO:Li/IZTO薄膜,其次使用恒溫程式管式爐對石英管中的??IZO:Li/IZTO薄膜樣品在氧氣氣氛下進行120?°C的退火處理。退火30?min后再用真??空蒸鍍的方法給IZO:U/IZTO薄膜樣品鍍A1電極。將制備完成的IZO:Li/IZTO?TFT??使用Keithley?SCS-4200半導體性能測試儀對其性能進行測試。詳細的制備過程如??下:??(1)襯底的選擇與清洗??本論文中使用p-Si?(p<0.0in?cm)作為TFT的襯底,在襯底上通過熱氧化生??成一層200?nm的Si02作為TFT的絕緣層。在濺射沉積有源層之前,先對切割好的??9??
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【參考文獻】:
期刊論文
[1]金屬氧化物薄膜晶體管最新研究進展[J]. 王春蘭,李玉慶,韓莎,姚奇,高博. 紡織高;A(chǔ)科學學報. 2018(04)
博士論文
[1]新型金屬氧化物薄膜晶體管的性能研究及工藝開發(fā)[D]. 羅東向.華南理工大學 2014
碩士論文
[1]IGZO薄膜性能的研究及改善[D]. 湯猛.江南大學 2017
[2]金屬氧化物薄膜和晶體管的制備與性能研究[D]. 譚惠月.青島大學 2015
本文編號:2905219
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