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碳化硅MOSFET靜動(dòng)態(tài)特征參數(shù)溫控特性的研究

發(fā)布時(shí)間:2020-11-21 16:45
   盡管硅(Si)功率器件的技術(shù)已經(jīng)成熟,但是固有的材料極限使它們?cè)诟邏、高頻、高溫和高功率應(yīng)用中的性能受到了限制。因此諸如碳化硅(SiC)等寬帶隙功率半導(dǎo)體器件開始變得更具吸引力,并且有可能在不久的將來(lái)在某些應(yīng)用領(lǐng)域內(nèi)取代硅器件。與硅相比,碳化硅材料具有許多優(yōu)異的性能,如更高的臨界電場(chǎng),相對(duì)高的電子遷移率和更高的導(dǎo)熱率,理論上碳化硅MOSFET有可能在很高的溫度(300℃)下工作。隨著電力電子器件在惡劣環(huán)境中面臨更廣泛的應(yīng)用,碳化硅MOSFET在高溫環(huán)境下的運(yùn)行能力也越來(lái)越受到關(guān)注。本文依托國(guó)家科技部的國(guó)家重點(diǎn)研發(fā)計(jì)劃項(xiàng)目“高壓大功率SiC材料、器件及其在電力電子變壓器中的應(yīng)用示范”,對(duì)碳化硅MOSFET靜動(dòng)態(tài)特征的參數(shù)溫控特性進(jìn)行了研究。本文將理論研究與實(shí)驗(yàn)驗(yàn)證相結(jié)合,詳細(xì)的分析了室溫到200℃高溫下碳化硅MOSFET靜態(tài)和動(dòng)態(tài)特性的溫控特性。然后設(shè)計(jì)了碳化硅MOSFET高溫柵偏實(shí)驗(yàn),研究了長(zhǎng)時(shí)間高溫柵偏后器件靜態(tài)特性參數(shù)的穩(wěn)定性,并對(duì)器件柵極氧化層的可靠性進(jìn)行評(píng)估。研究結(jié)果表明,雖然碳化硅MOSFET具有十分敏感的溫度特性,但是在200℃的高溫下依舊具有良好的電氣性能,并且與硅器件相比具有極低的漏電流和良好的阻斷能力以及更低導(dǎo)通電阻。碳化硅MOSFET的總開關(guān)損耗對(duì)溫度并不敏感。此外,長(zhǎng)時(shí)間的高溫柵偏之后,除閾值電壓正向漂移外,其他靜態(tài)特性參數(shù)都具有十分優(yōu)異的穩(wěn)定性。
【學(xué)位單位】:華北電力大學(xué)(北京)
【學(xué)位級(jí)別】:碩士
【學(xué)位年份】:2019
【中圖分類】:TN386
【部分圖文】:

碳化硅,里程碑,氮化鎵


華北電力大學(xué)碩士學(xué)位論文??這為系統(tǒng)的體積容量、效率甚至工作溫度都帶來(lái)了很多有利之處。目前,在所??有寬禁帶半導(dǎo)體材料中,碳化硅和氮化鎵是最有前景的141。圖1-1比較了硅、??碳化硅、氮化鎵的幾種材料屬性m。碳化硅和氮化鎵(?3eV)的禁帶寬度幾乎??是硅(?leV)的三倍之多。碳化硅和氮化鎵的擊穿電場(chǎng)強(qiáng)度幅值上比硅材料高??一個(gè)數(shù)量級(jí)。高阻斷電場(chǎng)強(qiáng)度可以使得寬禁帶功率器件的設(shè)計(jì)更薄,電壓阻斷??層的摻雜更高。對(duì)于單極性功率器件,這可以產(chǎn)生一個(gè)更低的通態(tài)壓降導(dǎo)通損??耗。對(duì)于雙極型功率器件,這可以使得開關(guān)時(shí)間更短,開關(guān)損耗更低。碳化硅??的高熱導(dǎo)和大禁帶寬度使得碳化硅器件的工作溫度很容易達(dá)到20(TC以上,所??有這些特性都使得寬禁帶半導(dǎo)體器件很有可能取代硅器件。??禁帶寬度??(eV)??4外\??熱導(dǎo)率擊穿電場(chǎng)??(W/cm-k)\\?v;?/?/?(l〇A6V/cm)??\\???---\/?/?/?-A-GaN??\?\/^?j??飽和漂移二?——電子遷移¥??(10A7cm/s)?(10A3cm2/V*s)??圖i-i材料屬性??在過去幾年中,碳化硅和氮化鎵材料品質(zhì)的明顯改善,使得碳化硅和氮化??鎵功率器件己經(jīng)實(shí)現(xiàn)了產(chǎn)業(yè)化,特別是碳化硅肖特基二極管,碳化硅MOSFET??和碳化硅JFET己經(jīng)投入市場(chǎng)。自從2001年英飛凌推出首款商用碳化硅肖特基??二極管以來(lái),碳化硅技術(shù)的發(fā)展和市場(chǎng)增長(zhǎng)勢(shì)頭強(qiáng)勁。其中圖1-2總結(jié)了一些??碳化硅關(guān)鍵的發(fā)展里程碑[61。到目前為止

本征載流子濃度


華北電力大學(xué)碩士學(xué)位論文??2-2(b)所示。由式(2-4)和式(2-5)可以看出本征載流子濃度與溫度的倒數(shù)??呈正比,因此圖2-l(a)的橫軸采用溫度的倒數(shù),但是為了使本征載流子濃度與??溫度更容易聯(lián)系起來(lái),所以增加圖2-2(b)。??f同_??:?X:?::::、:??:^?;?i?:?:?:?:?:?:?:?!?:?i??jq-i|?r?.?1?.?>?.?>?.?■?.?i?.?i?.?I?.?I?|Q-ii?f?.?i?.?>?.?i?.?t?.N?i?.??300?350?400?450?500?550?600?650?700?1.0?1.5?2.0?2.5?3.0?3.5?4.0??溫度/K?100/溫度/(1/K)??(a)本征載流子濃度與溫度的關(guān)系?(b)本征載流子濃度與溫度倒數(shù)的關(guān)系??圖2-1本征載流子濃度??2.1.1.2雜質(zhì)罔化率??在碳化硅材料中,每個(gè)碳原子或者硅原子最外層都有四個(gè)電子,當(dāng)最外層??都有五個(gè)電子氮原子或磷原子替換了原來(lái)的碳原子或者硅原子時(shí),其中四對(duì)電??子形成穩(wěn)定的電子對(duì)并多余出-個(gè)電子形成N型半導(dǎo)體,當(dāng)最外層都有個(gè)電子??鋁原子或硼原子替換了原來(lái)的碳原子或者硅原子時(shí),其中四對(duì)電子形成穩(wěn)定的??電子對(duì)并多余出一個(gè)空穴形成P型半導(dǎo)體。??1.0,?;?-TT:?????一......——I0,5cm..'?1.0.?y???.?????/?/?—?—?IOK>cm'??f?f?z.?-?.??〇?8?.?

離化率,導(dǎo)帶電子,平衡態(tài),本征載流子濃度


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本文編號(hào):2893300

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