本文關(guān)鍵詞：基于UVM的射頻基帶電路驗(yàn)證平臺(tái)的設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn)，由筆耕文化傳播整理發(fā)布。

【摘要】：集成電路作為電子信息產(chǎn)業(yè)的基石,在現(xiàn)代社會(huì)扮演著重要角色。隨著IP復(fù)用技術(shù)、半導(dǎo)體工藝技術(shù)的改進(jìn),單位面積內(nèi)集成的晶體管數(shù)目正按照摩爾定律在快速增長,雖然驗(yàn)證工作占據(jù)總體研發(fā)時(shí)間的70%,但是驗(yàn)證技術(shù)卻增長緩慢。因此驗(yàn)證工作越來越成為集成電路研發(fā)中的瓶頸。傳統(tǒng)的驗(yàn)證平臺(tái)對(duì)復(fù)雜的百萬門級(jí)的電路驗(yàn)證的過程中存在以下問題：錯(cuò)誤定位不準(zhǔn)確、驗(yàn)證場景遺漏、效率低下,極大地耗費(fèi)項(xiàng)目時(shí)間。因此尋求一種自動(dòng)化、可重用、隨機(jī)約束、擴(kuò)展性強(qiáng)的驗(yàn)證方法已成為驗(yàn)證業(yè)界亟待解決的問題。本文通過傳統(tǒng)驗(yàn)證技術(shù)和新型驗(yàn)證技術(shù)的對(duì)比研究,在基于SystemVerilog的UVM(Universal Verification Methodology)驗(yàn)證方法學(xué)的基礎(chǔ)上,提出一種融合了以覆蓋率為導(dǎo)向的驗(yàn)證方法,融合事務(wù)級(jí)操作、約束隨機(jī)、斷言監(jiān)控、思維導(dǎo)圖式向量分解、參考模型逐級(jí)抽取等多種先進(jìn)驗(yàn)證技術(shù),搭建一個(gè)具有自動(dòng)化、可重用、可擴(kuò)展、隨機(jī)約束的樹形組織結(jié)構(gòu)的通用驗(yàn)證平臺(tái),并用將該平臺(tái)應(yīng)用于公司研發(fā)的射頻基帶電路中,通用驗(yàn)證平臺(tái)可實(shí)時(shí)監(jiān)控?cái)?shù)據(jù),自動(dòng)生成激勵(lì),自動(dòng)對(duì)比結(jié)果。驗(yàn)證結(jié)果表明：環(huán)境代碼的可重用性和可擴(kuò)展性在相同項(xiàng)目以及不同項(xiàng)目中提升顯著,芯片在驗(yàn)證過程中減少人工干預(yù)并提高自動(dòng)化對(duì)比化程度,減少了許多因?yàn)槿斯じ深A(yù)帶來的錯(cuò)誤,芯片的功能覆蓋率和代碼覆蓋率都實(shí)現(xiàn)在短時(shí)間內(nèi)達(dá)到收斂狀態(tài)并且滿足驗(yàn)證需求。
【關(guān)鍵詞】：UVM 射頻基帶 系統(tǒng)驗(yàn)證 覆蓋率驅(qū)動(dòng) 抽取驗(yàn)證
【學(xué)位授予單位】：中國科學(xué)院大學(xué)(工程管理與信息技術(shù)學(xué)院)
【學(xué)位級(jí)別】：碩士
【學(xué)位授予年份】：2016
【分類號(hào)】：TN407
【目錄】：

• 摘要5-6
• Abstract6-9
• 第一章 緒論9-25
• 1.1 研究背景與意義9-11
• 1.2 本課題的研究進(jìn)展11-23
• 1.2.1 業(yè)界常用驗(yàn)證技術(shù)研究現(xiàn)狀11-14
• 1.2.2 現(xiàn)階段常用驗(yàn)證技術(shù)比較14-15
• 1.2.3 現(xiàn)階段仿真驗(yàn)證技術(shù)研究現(xiàn)狀15-21
• 1.2.4 歷代驗(yàn)證方法學(xué)對(duì)比分析21-23
• 1.3 本文主要研究內(nèi)容23-25
• 第二章 驗(yàn)證平臺(tái)需求分析25-39
• 2.1 待測設(shè)計(jì)MH1801芯片分析25-29
• 2.1.1 芯片架構(gòu)和功能分析25-26
• 2.1.2 芯片接口分析26-29
• 2.1.3 芯片調(diào)制模式和傳送速率29
• 2.2 驗(yàn)證平臺(tái)功能性需求29-36
• 2.2.1 接口驅(qū)動(dòng)的設(shè)計(jì)29-30
• 2.2.2 中斷服務(wù)程序的設(shè)計(jì)30-31
• 2.2.3 帶有隨機(jī)的包生成機(jī)制31
• 2.2.4 自動(dòng)對(duì)比和斷言31-32
• 2.2.5 功能覆蓋率收集32
• 2.2.6 驗(yàn)證用例的分解和用例規(guī)約32-36
• 2.3 驗(yàn)證平臺(tái)非功能性需求36-37
• 2.3.1 可重用性和可擴(kuò)展性36-37
• 2.4 驗(yàn)證系統(tǒng)開發(fā)工具和語言37-38
• 2.5 本章小結(jié)38-39
• 第三章 基于UVM的通用驗(yàn)證系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)39-49
• 3.1 驗(yàn)證平臺(tái)39-41
• 3.1.1 接口實(shí)現(xiàn)39-40
• 3.1.2 虛擬接口實(shí)現(xiàn)40-41
• 3.2 基于UVM的驗(yàn)證平臺(tái)41-47
• 3.2.1 UVM樹派生關(guān)系41-42
• 3.2.2 UVM驗(yàn)證組件實(shí)現(xiàn)42-44
• 3.2.3 UVM運(yùn)行機(jī)制實(shí)現(xiàn)44-45
• 3.2.4 UVM其他組件的實(shí)現(xiàn)45-47
• 3.3 本章小結(jié)47-49
• 第四章 該驗(yàn)證系統(tǒng)在射頻基帶電路的應(yīng)用49-65
• 4.1 驗(yàn)證計(jì)劃和驗(yàn)證流程49-51
• 4.2 各個(gè)定制組件詳細(xì)設(shè)計(jì)51-61
• 4.2.1 driver組件設(shè)計(jì)51-53
• 4.2.2 monitor組件設(shè)計(jì)53-54
• 4.2.3 agents和equencer和組件設(shè)計(jì)54-55
• 4.2.4 socreboard組件設(shè)計(jì)55-56
• 4.2.5 transaction組件設(shè)計(jì)56-57
• 4.2.6 test和sequence組件設(shè)計(jì)57-61
• 4.3 其他模塊設(shè)計(jì)61-63
• 4.3.1 斷言設(shè)計(jì)61-62
• 4.3.2 功能覆蓋率統(tǒng)計(jì)模塊設(shè)計(jì)62-63
• 4.4 本章小結(jié)63-65
• 第五章 驗(yàn)證平臺(tái)仿真流程和結(jié)果65-71
• 5.1 驗(yàn)證平臺(tái)目錄結(jié)構(gòu)和仿真流程65-66
• 5.2 仿真結(jié)果66-70
• 5.2.1 部分功能截圖66-67
• 5.2.2 代碼覆蓋率67-68
• 5.2.3 功能覆蓋率68-70
• 5.3 本章小結(jié)70-71
• 第六章 結(jié)論與展望71-73
• 6.1 論文總結(jié)71
• 6.2 未來工作展望71-73
• 參考文獻(xiàn)73-75
• 致謝75-77
• 個(gè)人簡歷、在學(xué)期間發(fā)表的論文與研究成果77

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