記憶元件的電學(xué)特性分析及應(yīng)用研究
【學(xué)位授予單位】:長安大學(xué)
【學(xué)位級別】:碩士
【學(xué)位授予年份】:2018
【分類號】:TN60;O415.5
【圖文】:
(a) (b) (c)(d) (e) (f)圖 4.2 新型五階混沌系統(tǒng)相軌跡圖-0.610-0.4-0.25 100z0.25y00.4x0.60-5-5-10-10-8 -6 -4 -2 0 2 4 6 8x-10-8-6-4-20246810y-8 -6 -4 -2 0 2 4 6 8x-0.6-0.4-0.200.20.40.6z-0.6 -0.4 -0.2 0 0.2 0.4 0.6u-0.06-0.04-0.0200.020.040.06w-0.6 -0.4 -0.2 0 0.2 0.4 0.6z-0.6-0.4-0.200.20.40.6u-8 -6 -4 -2 0 2 4 6 8x-0.06-0.04-0.0200.020.040.06w
40圖 4.6 狀態(tài)變量 x隨參數(shù) L 變化的分岔圖圖4.5和圖4.6分別為系統(tǒng)在1/ L∈(4 0, 16 0)之間的李雅普諾夫指數(shù)譜和狀態(tài)變量x的分岔圖。結(jié)合兩幅圖,可以發(fā)現(xiàn)在隨參數(shù)L變化時,系統(tǒng)有兩個突變的點,一個在1/L =76附近,一個在1/L =135 附近。從圖中可以看出當1/ L∈( 4 0 ,76 ) (1 35 ,16 0)之間時,李雅普諾夫指數(shù)接近為零,分岔圖接近為一條直線,系統(tǒng)處于穩(wěn)定的狀態(tài)。當1/ L∈(7 6 ,13 5)時,系統(tǒng)有明顯大于零的李雅普諾夫指數(shù),結(jié)合分岔圖可以判斷 L在這一范圍內(nèi)時系統(tǒng)處于混沌狀態(tài)。通過 MATLAB 數(shù)值仿真,得到了參數(shù)1/ L∈(4 0 ,15 0),即 L∈(0 .0067, 0. 025)之間,
【參考文獻】
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本文編號:2733210
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