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金屬輔助化學(xué)刻蝕制備黑硅及其光電性能研究

發(fā)布時(shí)間:2020-06-26 23:01
【摘要】:由于單晶硅材料自身的性能限制,使得硅在可見光-近紅外波段的光反射率很高,限制了硅基材料的應(yīng)用范圍、靈敏度及轉(zhuǎn)換效率等關(guān)鍵性能。而黑硅是一種新型半導(dǎo)體材料,由于其孔狀或尖錐的表面微觀結(jié)構(gòu),表面粗糙度較大,使其在可見光-近紅外波段的光吸收率大大提高,大幅度提高了材料的光電轉(zhuǎn)換效率,對(duì)于光探測(cè)器、光二極管、太陽能電池、場(chǎng)發(fā)射器等其他光電器件有較為廣闊的應(yīng)用前景。現(xiàn)階段,黑硅的制備方法有很多,但金屬輔助化學(xué)刻蝕制備黑硅因操作簡(jiǎn)便,成本低廉,可大批量操作等優(yōu)點(diǎn),為黑硅的商業(yè)化提供了可能。本文主要研究了金屬輔助化學(xué)刻蝕制備黑硅中沉積溶液的硝酸銀溶液濃度、刻蝕時(shí)間和刻蝕溫度對(duì)黑硅樣品的形貌及光吸收率的影響,并在所制備的黑硅樣品表面制備叉指電極,研究樣品的光暗電流、量子效率及靈敏度等光電性能。通過本文研究表明,金屬輔助化學(xué)刻蝕制備黑硅過程中,當(dāng)硝酸銀溶液的濃度由0.01 mol/L增加到0.03 mol/L時(shí),由于沉積時(shí)溶液中銀粒子濃度的增加,銀粒子發(fā)生聚集現(xiàn)象,所刻蝕的孔洞結(jié)構(gòu)由單一結(jié)構(gòu)變?yōu)榫奂Y(jié)構(gòu),平均深度由4μm增加到6μm,在200-1000 nm波長范圍內(nèi)的平均光吸收率由50%增加到65%;當(dāng)刻蝕時(shí)間由30 min增加到45 min時(shí),所刻蝕的孔洞尺寸結(jié)構(gòu)都在100 nm左右,平均深度由4μm增加到9μm,在200-1000 nm波長范圍內(nèi)平均光吸收率由50%增加到90%;當(dāng)刻蝕溫度由室溫增加到70℃時(shí),所刻蝕的孔洞結(jié)構(gòu)均在100 nm左右,平均深度由3μm增加到了8μm。當(dāng)樣品的平均光吸收率由25%增加到85時(shí),樣品的靈敏度由0.0037 A/W增加到0.00847 A/W,量子效率由0.782%增加到了1.9%。200-1000 nm波長范圍內(nèi)平均光吸收率為85%的樣品,在施加1 V到5 V的反向偏壓時(shí),樣品的暗電流增加7.9μA時(shí)不再隨偏壓的增加而增加,靈敏度增加到0.0824 A/W時(shí)不再隨偏壓的增加而發(fā)生明顯變化,量子效率則增加到18.56%時(shí)不隨偏壓的增加而增加。
【學(xué)位授予單位】:長春理工大學(xué)
【學(xué)位級(jí)別】:碩士
【學(xué)位授予年份】:2019
【分類號(hào)】:TN304.12;O613.72
【圖文】:

SEM圖,環(huán)境氣體,刻蝕,發(fā)光光譜


圖 1.1 SF6環(huán)境氣體下刻蝕的黑硅 SEM 圖[3](a)斜 45o角視圖;(b)樣品橫截面圖以黑硅為基底的太陽能電池較硅基太陽能電池的轉(zhuǎn)換效類解決全球能源危機(jī)開辟了新的思路。而以黑硅為基底制性能得到了大幅度的提高,并且將能夠探測(cè)到的光的波段范圍內(nèi),可用于夜視鏡、照相機(jī)等器材。性了[5]利用飛秒激光脈沖法以空氣為氣體氛圍時(shí),制備出的光發(fā)光情況,黑硅的發(fā)光光譜會(huì)受到脈沖參數(shù)和退火參數(shù)的不同,會(huì)導(dǎo)致發(fā)光光譜的譜峰位置發(fā)生了變化;當(dāng)激光通時(shí),發(fā)現(xiàn)激光通量不會(huì)對(duì)發(fā)光光譜的譜峰位置產(chǎn)生影響,樣品的發(fā)光強(qiáng)度。實(shí)驗(yàn)發(fā)現(xiàn)退火對(duì)黑硅的光譜有較大的影置沒有受到退火的影響,但是發(fā)光強(qiáng)度增強(qiáng)了,同時(shí)通過附近的峰,當(dāng)退火時(shí)間的增加,這個(gè)新增的紅峰的位置會(huì)的紅峰的強(qiáng)度隨之增強(qiáng)。

原理圖,干法刻蝕,原理,刻蝕


應(yīng)原理分別為物理刻蝕、化學(xué)刻蝕和物理化學(xué)刻蝕。干法刻蝕制備黑硅主要基底需要被刻蝕的表面暴露在氣態(tài)等離子中,通過等離子與待刻蝕的樣品表理或化學(xué)反應(yīng)來對(duì)硅基底表面進(jìn)行刻蝕。硅基底與氣態(tài)等離子接觸時(shí)產(chǎn)生化學(xué)反應(yīng)時(shí),該反應(yīng)為化學(xué)刻蝕,化學(xué)刻蝕為等離子體刻蝕[9]。而等離子體刻蝕制備黑硅首先是特定或者混合的氣體在強(qiáng)下進(jìn)行了輝光放電,產(chǎn)生的分子或者分子基團(tuán)與硅基表面發(fā)生離子化學(xué)輝光發(fā)電產(chǎn)生的活性反應(yīng)基團(tuán)通過擴(kuò)散到達(dá)了材料的表面,與之接觸時(shí)兩化學(xué)反應(yīng),反應(yīng)生成了揮發(fā)性的氣體,這些氣體在真空室中被抽走,避免影應(yīng)的進(jìn)行,從而對(duì)黑硅基底進(jìn)行刻蝕得到黑硅樣品。實(shí)驗(yàn)過程中的參數(shù)為反成分和流量,通過對(duì)兩者的控制,找到最佳的實(shí)驗(yàn)參數(shù),得到較好的刻蝕選可以提高樣品的刻蝕速率,由于等離子刻蝕時(shí)不需要對(duì)樣品施加電壓,因此場(chǎng)的定向作用,而對(duì)硅片的刻蝕是各向同性的,所以很容易發(fā)生鉆刻現(xiàn)象,刻蝕精度不是很高,無法達(dá)到微米級(jí)。

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本文編號(hào):2731013

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