光電互聯(lián)PCB熱循環(huán)可靠性研究
發(fā)布時(shí)間:2020-02-06 09:28
【摘要】:研究熱循環(huán)加載對(duì)光電互聯(lián)印制電路板(Printed Circuit Board,PCB)可靠性的影響。在光電互聯(lián)PCB的設(shè)計(jì)階段,建立光電互聯(lián)PCB的三維有限元模型,在GJB 150.5—86規(guī)定的熱循環(huán)加載條件下,對(duì)光電互聯(lián)PCB焊點(diǎn)的可靠性、光耦合效率和光纖帶的可靠性進(jìn)行了研究。分析表明,光電互聯(lián)PCB焊點(diǎn)最大應(yīng)力、光纖最大應(yīng)力均處于安全區(qū)域,結(jié)構(gòu)不會(huì)發(fā)生破壞,且光電耦合效率不會(huì)發(fā)生顯著變化,保證了光傳輸?shù)姆(wěn)定性。研究驗(yàn)證了設(shè)計(jì)方案的可行性,促進(jìn)了光電互聯(lián)技術(shù)的工程化。
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7 顧瑋s,
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