基于STC15單片機邏輯IC檢測器的設(shè)計與實現(xiàn)
【圖文】:
文液晶屏,能直觀引導使用者操作,并加入芯片管腳圖顯示功能。(5)設(shè)計一個燒錄接口,實現(xiàn)程序的燒錄及調(diào)試程序使用。所需單片機I/O口數(shù)量計算:以上硬件占用I/O口經(jīng)計算后得知,需要37個。本設(shè)計選取STC15F2K60S2,此款MCU有38個I/O口,符合要求。單片機時鐘頻率的選擇:STC15是1T的高速單片機,但受限于LCD12864響應時長及不同邏輯門電路從信號輸入到穩(wěn)定輸出需要一定的時間[8],本設(shè)計采用22.1184MHz無分頻至16分頻的可變時鐘頻率,在保證了檢測準確性的同時,也極大地縮小了檢測的時間。硬件原理圖如圖1所示。圖1硬件原理圖圖1中的單片機I/O口,僅與燒寫器連接的I/O口,限定為P31、P30,其他都沒有限定(其中與LCD12864液晶連接的DB0-DB7的8個I/O口,應選用某P口完整的8個I/O口,如P0、P1、P2等,方便程序的編寫),可以在制作電路設(shè)計PCB時,根據(jù)走線的需要,具體定下來。3編程思路3.1程序的流程(1)首先把所需檢測的每個芯片的檢測程序,獨立寫成一個函數(shù)。對于集成多個門電路的芯片,每個門電路功能的好壞,也要求能分別顯示出來。(2)通過4個按鍵,依據(jù)屏幕顯示的引導,可具體選取某個檢測程序來檢測。(3)在使用“自動”檢測功能時,把不同型號芯片的每個檢測程序都執(zhí)行過去,期間遇到某個(也僅有一個)型號芯片的檢測程序檢測出結(jié)果正確,顯示出該型號的信息。若每個檢測程序都檢測錯誤,則顯示芯片損壞的信息。這種采用逐一比較的方法,檢測時間較長,,故在運行每個檢測程序時,一旦遇到其中一項的真值表不對時,通過編程,立即跳過本程序后面的真值表驗證,直接跳往下一個檢測程序。此舉可極大地縮小使用“自動”功能時的檢測時間。(4)要實現(xiàn)在復位后,單片機能運行上一次選擇101
第36卷的檢測程序的方法:利用單片機內(nèi)部的E2PROM[9]。程序流程如圖2所示。圖2程序流程圖3.2檢測芯片的編程以檢測型號為74LS00的芯片為例,說明下編程的做法。74LS00是一個具有兩輸入、一輸出,且內(nèi)部集成了4個相同與非門電路的芯片。其管腳圖[10]與真值表,如圖3與圖4所示。圖374LS00管腳圖圖4真值表因為芯片的每個管腳,包括電源管腳,都分別與單片機的I/O口一一相連。進入本檢測函數(shù)時:(1)首先把與74LS00第7腳、第14腳連接的I/O口,設(shè)置為推挽模式,同時將與第7腳相連的I/O口,設(shè)置輸出為低電平,與第14腳相連的I/O口,設(shè)置輸出為高電平。至此,完成芯片電源腳的設(shè)置。(2)依據(jù)真值表,共4個檢測項目。把與每個門電路兩個輸入端相連的I/O口,設(shè)置輸出為00,01,10,11這4種狀態(tài),同時通過與輸出端連接的I/O口,分別讀取這4種狀態(tài)下,各個輸出端的電平高低狀況。若檢測到輸出分別是1,1,1,0,則結(jié)果全部滿足真值表,說明此芯片是良好的。若其中某個狀態(tài)不符合,則表明芯片是損壞的,具體為內(nèi)部對應的門電路是損壞的。其他型號的芯片檢測程序,可依照上述的步驟,先設(shè)置好芯片的電源腳,再依據(jù)其真值表的所有測試選項,寫出相應的檢測程序,然后獲取對應的輸出,與真值表逐一比對,最終得出檢測結(jié)果。3.3128×64點陣式液晶點陣式LCD不僅可以顯示字符、數(shù)字,還可以顯示圖形、曲線及漢字,并能夠?qū)崿F(xiàn)多種動畫顯示效果,使人機界面更加友好,使用操作更加靈活方便[11]。12864液晶使用ST920控制器,5V電源驅(qū)動,帶背光,內(nèi)置8192個16x16點陣、128個字符(8x16點陣)及64x256點陣顯示RAM(GDRAM)[12]。液晶繪圖顯示坐標如圖5所示。圖5液晶繪圖顯示坐標12864液晶可看?
【作者單位】: 福建師范大學閩南科技學院;
【基金】:福建省教育廳中青年教師教育科研項目(JAT160674)
【分類號】:TN407
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本文編號:2518160
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