【摘要】：鑒于有限元分析耗時耗資源的缺點,為了加速集成電路的互連可靠性分析,提出將傳統(tǒng)的有限元建模和人工神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)(ANN)建模技術(shù)結(jié)合來實現(xiàn)IC的建模和仿真分析。采用有限元ANSYS參數(shù)化設(shè)計語言(APDL)實現(xiàn)IC三維模型的自動構(gòu)建和原子通量散度(AFD)計算,之后通過對計算所得的可靠性數(shù)據(jù)進(jìn)行訓(xùn)練和測試,采用神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)技術(shù)對模型的輸入輸出關(guān)系進(jìn)行建模,使模型達(dá)到足夠高的精度。神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)模型構(gòu)建好之后,可以在短時間產(chǎn)生一個可靠性數(shù)據(jù)庫。通過對數(shù)據(jù)的統(tǒng)計分析可以得到電路在不同條件下的互連可靠性,進(jìn)而分析各因素對電路互連可靠性的影響,為集成電路的互連可靠性分析和設(shè)計提供重要指導(dǎo)。
[Abstract]:In order to speed up the reliability analysis of integrated circuits, the traditional finite element modeling and artificial neural network (ANN) modeling technology is proposed to realize the modeling and simulation analysis of IC in view of the shortcomings of finite element analysis (FEA), which consumes time and resources. The finite element ANSYS parametric design language (APDL) is used to realize the automatic construction of IC 3D model and the calculation of atomic flux divergence (AFD). Then, the reliability data are trained and tested, and the input-output relationship of the model is modeled by neural network technology, so that the model can achieve high enough accuracy. After the neural network model is built, a reliability database can be generated in a short time. Through the statistical analysis of the data, the interconnection reliability of the circuit under different conditions can be obtained, and then the influence of various factors on the reliability of the circuit interconnection can be analyzed, which provides important guidance for the analysis and design of the interconnection reliability of the integrated circuit.
【作者單位】： 青海民族大學(xué)物理與電子信息工程學(xué)院;天津大學(xué)微電子學(xué)院;青海電力海北供電公司;
【基金】：青海省自然科學(xué)基金資助項目(2016-ZJ-922Q) 青海省2017年基礎(chǔ)研究計劃項目(2017-ZJ-753) 青海省科技廳應(yīng)用基礎(chǔ)研究計劃資助項目(2015-ZJ-721) 教育部“春暉計劃”資助項目(Z2016071,Z2015033) 青海民族大學(xué)本科教學(xué)研究項目(2016-BKJXYB-09)
【分類號】：TN406;TP183

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2 劉R，

本文編號：2506224