【摘要】：針對(duì)非制冷紅外焦平面陣列(Uncooled Infrared Focal Plane Array,UIRFPA)成像系統(tǒng)中普遍存在的非均勻性較差的問題,本文提出了一種基于探測(cè)器工作偏壓對(duì)其輸出影響來進(jìn)行片上非均勻性校正(Non-uniformity Correction,NUC)的方法——探測(cè)器片上偏壓逐點(diǎn)NUC技術(shù)。該方法是在探測(cè)器每一個(gè)像元關(guān)鍵偏壓VEB和VFID上使用DAC供電,通過在積分前對(duì)每個(gè)像元的偏壓進(jìn)行單獨(dú)的調(diào)整來校正其信號(hào)輸出值。在不影響探測(cè)器幀頻的情況下,實(shí)現(xiàn)了非均勻性從1.9%降低到0.4%,有效改善了探測(cè)器原始信號(hào)的非均勻性,且具有很好的實(shí)時(shí)性。
[Abstract]:In order to solve the problem of poor inhomogeneity in uncooled infrared focal plane array (Uncooled Infrared Focal Plane Array,UIRFPA) imaging system, a method of on-chip nonuniformity correction (Non-uniformity Correction,NUC) based on the influence of detector operating bias voltage on its output is proposed in this paper, which is called on-chip bias point-by-point NUC technique. In this method, DAC is used to supply power on each pixel critical bias VEB and VFID of the detector, and the signal output value is corrected by adjusting the bias voltage of each pixel separately before integration. Without affecting the frame rate of the detector, the nonuniformity is reduced from 1.9% to 0.4%, which effectively improves the inhomogeneity of the original signal of the detector, and has good real-time performance.
【作者單位】： 中國科學(xué)院紅外探測(cè)與成像技術(shù)重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室中國科學(xué)院上海技術(shù)物理研究所;中國科學(xué)院大學(xué);中國科學(xué)院上海技術(shù)物理研究所啟東光電遙感中心;
【基金】：國家重點(diǎn)研發(fā)計(jì)劃(2016YFB0500401) 國家863計(jì)劃(2014AA123201) 國家高分辨率對(duì)地觀測(cè)系統(tǒng)重大專項(xiàng)(A0106/1112)
【分類號(hào)】：TN215

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