【摘要】：輻射測(cè)溫法以其響應(yīng)速度快、測(cè)溫范圍廣的特點(diǎn)得到廣泛應(yīng)用,發(fā)射率是影響輻射測(cè)溫精度的主要參數(shù)。實(shí)際條件中,不同物體、相同物體不同表面溫度及表面狀況其發(fā)射率是不同的。為獲得實(shí)際物體的表面波段法向發(fā)射率,提高測(cè)溫精度,采用紅外熱像儀對(duì)其進(jìn)行測(cè)量。在介紹紅外熱像儀測(cè)溫原理的基礎(chǔ)上,通過(guò)分析得出紅外熱像儀測(cè)量發(fā)射率的方法。由于紅外熱像儀探測(cè)器、工作波段和測(cè)溫范圍的不同,發(fā)射率計(jì)算公式中n值也是不同的,對(duì)應(yīng)用的紅外熱像儀在不同測(cè)溫范圍內(nèi)的n值進(jìn)行了計(jì)算。應(yīng)用紅外熱像儀和比色測(cè)溫儀對(duì)高溫陶瓷表面波段法向發(fā)射率進(jìn)行了測(cè)量,并對(duì)其進(jìn)行了驗(yàn)證。實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明該方法測(cè)得的表面波段法向發(fā)射率是可靠的,其修正后測(cè)溫誤差小于1%。
[Abstract]:Radiation temperature measurement method is widely used because of its fast response speed and wide range of temperature measurement. Emissivity is the main parameter that affects the accuracy of radiation temperature measurement. In the actual conditions, the emissivity of different objects and different surface temperatures and surface conditions are different. In order to obtain the normal emissivity and improve the accuracy of temperature measurement, the infrared thermal imager is used to measure the real object. On the basis of introducing the principle of infrared thermal imager, the method of measuring emissivity of infrared thermal imager is obtained through analysis. Because of the difference of working band and temperature range of infrared thermal imager, n value in emissivity formula is also different. The n value of infrared thermal imager is calculated in different temperature range. The normal emissivity of the surface band of high temperature ceramics was measured by infrared thermal imager and colorimetric thermometer. The experimental results show that the normal emissivity of the surface band measured by this method is reliable, and the corrected temperature measurement error is less than 1.
【作者單位】： 中北大學(xué)儀器與電子學(xué)院;中北大學(xué)儀器科學(xué)與動(dòng)態(tài)測(cè)試教育部重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室;
【基金】：國(guó)家自然科學(xué)基金面上項(xiàng)目(51575499,61473267) 技術(shù)基礎(chǔ)科研項(xiàng)目(JSJC2013408C009)
【分類號(hào)】：TN219

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本文編號(hào)：2410576