【摘要】：針對現(xiàn)有多輸入向量控制(M-IVC)緩解負偏置溫度不穩(wěn)定性(NBTI)引起的電路老化的方法僅考慮到輸入信號占空比約束的問題,提出一種同時優(yōu)化輸入信號占空比和隨機性的M-IVC方法.首先采用遺傳算法求解出電路的最優(yōu)輸入占空比;然后在最優(yōu)占空比約束下產(chǎn)生具有隨機性的各輸入信號波形;最后構(gòu)成多輸入控制向量,依次應用到待機模式下電路的輸入.采用相同的晶體管工藝模型和ISCAS85基準電路的實驗結(jié)果表明,與現(xiàn)有M-IVC方法相比,文中方法能更好地緩解電路NBTI老化;可降低電路平均老化時延增量,分別達到45.9%和32.7%;而且隨著電路待機時間的增加,該方法的抗老化效果變得越好.
[Abstract]:In view of the existing multi-input vector control (M-IVC) methods to mitigate the circuit aging caused by the negative bias temperature instability (NBTI), only the input signal duty cycle constraints are considered. A M-IVC method is proposed to optimize both duty cycle and randomness of input signals. First, the optimal input duty cycle of the circuit is solved by genetic algorithm; then the random input signal waveforms are generated under the optimal duty cycle constraint; finally, the multi-input control vector is constructed and applied to the input of the circuit in standby mode in turn. The experimental results of the same transistor process model and ISCAS85 reference circuit show that compared with the existing M-IVC method, the proposed method can better alleviate the NBTI aging of the circuit. The average aging delay increment of the circuit can be reduced to 45.9% and 32.7%, respectively, and the anti-aging effect of the method becomes better with the increase of circuit standby time.
【作者單位】： 合肥工業(yè)大學電子科學與應用物理學院;
【基金】：國家自然科學基金(61371025,61574052,61474036)
【分類號】：TN406

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本文編號：2409368