【摘要】：隨著電子設(shè)備的廣泛使用,電磁兼容問題日趨嚴(yán)重,但是對(duì)于電磁兼容故障診斷卻沒有一套簡便有效的理論方法。因此,本文提出了基于故障樹理論和現(xiàn)場測試技術(shù)的電磁兼容故障診斷方法。使用故障樹分析電子設(shè)備的電磁兼容薄弱環(huán)節(jié),然后根據(jù)分析結(jié)果對(duì)故障設(shè)備進(jìn)行現(xiàn)場測試以定位故障源。本文首先對(duì)電磁兼容故障進(jìn)行了分析,并結(jié)合通用故障樹的建樹理論,研究了電磁兼容故障樹的建立方法和一般形態(tài)。同時(shí)文中針對(duì)故障樹分析中,底事件故障概率難以確定的問題,提出了基于層次分析法的故障概率分析方法:首先對(duì)影響底事件發(fā)生概率的因素進(jìn)行遞階層次構(gòu)造,對(duì)同一層次的因素進(jìn)行成對(duì)比較,建立判斷矩陣并對(duì)其進(jìn)行一致性檢驗(yàn),并根據(jù)判斷矩陣確定各指標(biāo)的權(quán)重,最后對(duì)各指標(biāo)進(jìn)行量化,將量化后的指標(biāo)和權(quán)重相乘,即可計(jì)算出底事件故障概率。文中還研究了故障樹的定性分析和定量分析的方法,其中定性分析包括故障樹最小割集的計(jì)算,定量分析包括最小割集重要度和底事件重要度的計(jì)算。對(duì)于電磁兼容故障樹的建立和分析,以及底事件故障概率的計(jì)算本文都給出了具體的算例。故障樹的最小割集表明了電磁兼容故障發(fā)生的最小故障模式,可用來指導(dǎo)測試的進(jìn)行。使用現(xiàn)場測試對(duì)各集合按照重要度從高到低進(jìn)行測試,可快速的定位電磁兼容故障的具體原因�，F(xiàn)場測試是對(duì)故障設(shè)備在工作狀態(tài)下進(jìn)行測試,相比于標(biāo)準(zhǔn)測試有無可比擬的優(yōu)越性。現(xiàn)場測試硬件技術(shù)有兩個(gè)問題:一個(gè)是抗飽和技術(shù),一個(gè)是微弱信號(hào)檢測。本文分別給出了問題分析和解決辦法。得到測試數(shù)據(jù)后,需要先對(duì)測試數(shù)據(jù)進(jìn)行預(yù)處理以使測試數(shù)據(jù)易于分析。預(yù)處理包括消噪和環(huán)境剔除兩步,文中對(duì)于消噪給出了小波消噪和奇異值消噪兩種方法。而環(huán)境剔除給出了基于閾值的剔除方法。最后提取數(shù)據(jù)的有用信息,包括峰值信息的提取和包絡(luò)信息的提取。根據(jù)提取的數(shù)據(jù)特征即可完成對(duì)電磁兼容故障的分析與診斷。
[Abstract]:With the wide use of electronic equipment, the problem of EMC is becoming more and more serious, but there is no simple and effective theoretical method for EMC fault diagnosis. Therefore, an EMC fault diagnosis method based on fault tree theory and field test technology is proposed. The fault tree is used to analyze the EMC weakness of the electronic equipment, and then the fault equipment is tested on the spot according to the analysis results to locate the fault source. In this paper, the EMC fault is analyzed, and the general configuration of EMC fault tree is studied based on the general fault tree theory. At the same time, aiming at the problem that the fault probability of bottom event is difficult to determine in fault tree analysis, a fault probability analysis method based on analytic hierarchy process (AHP) is proposed. The factors of the same level are compared in pairs, the judgment matrix is established and its consistency is checked, and the weight of each index is determined according to the judgment matrix. Finally, each index is quantified, and the quantized index and weight are multiplied. The fault probability of bottom event can be calculated. The qualitative analysis includes the calculation of the minimum cut set of the fault tree, and the quantitative analysis includes the calculation of the minimum cut set importance degree and the bottom event importance degree. Examples are given for the establishment and analysis of EMC fault tree and the calculation of fault probability of bottom event. The minimum cut set of the fault tree shows the minimum fault mode of EMC and can be used to guide the test. By using field test to test each set from high to low in importance, the causes of EMC faults can be quickly located. The field test is to test the fault equipment under the working condition, which has unparalleled superiority compared with the standard test. There are two problems in field testing hardware technology: one is anti-saturation technology, the other is weak signal detection. The problem analysis and solution are given in this paper. After getting the test data, it is necessary to preprocess the test data to make the test data easy to analyze. The pretreatment includes two steps: noise elimination and environment elimination. Wavelet and singular value denoising methods are presented in this paper. Environmental culling gives a threshold-based culling method. Finally, useful information is extracted, including peak value information and envelope information. The analysis and diagnosis of EMC faults can be completed according to the extracted data features.
【學(xué)位授予單位】：西安電子科技大學(xué)
【學(xué)位級(jí)別】：碩士
【學(xué)位授予年份】：2015
【分類號(hào)】：TN03

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本文編號(hào)：2282541