小樣本數(shù)據(jù)下功率模塊開(kāi)關(guān)損耗模型研究
[Abstract]:In studying the reliability of new energy system, it is very important to accurately predict the switching loss of power module IGBT. The switch dynamic test system based on power module can automatically adjust DC bus voltage, collector current, gate drive voltage and gate resistance, and record the dynamic voltage and current waveform of the switch. The accurate switching loss value is obtained by processing. Based on the experimental data, the switching loss model is established by SVM algorithm, which improves the existing switching loss model based on small sample data.
【作者單位】: 河北工業(yè)大學(xué)電氣工程學(xué)院;
【基金】:國(guó)家科技支撐計(jì)劃項(xiàng)目(2015BAA09B01) 國(guó)家自然科學(xué)基金項(xiàng)目(51377044) 河北省科技計(jì)劃項(xiàng)目(14214503D,13214303D)
【分類(lèi)號(hào)】:TN322.8
【相似文獻(xiàn)】
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,本文編號(hào):2187181
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