振動(dòng)條件下的晶振穩(wěn)健性機(jī)理研究
本文選題:晶振 + 振動(dòng)穩(wěn)健性; 參考:《工程力學(xué)》2017年01期
【摘要】:晶振在振動(dòng)環(huán)境下產(chǎn)生嚴(yán)重的相位噪聲惡化,由于其多學(xué)科交融的物理性質(zhì)和在電子系統(tǒng)參考源中的應(yīng)用價(jià)值而受到廣泛關(guān)注。隨著機(jī)電一體化設(shè)計(jì)理念的發(fā)展,研究振動(dòng)環(huán)境下的信號(hào)調(diào)諧模式和探索它們獨(dú)特的物理性質(zhì)已經(jīng)成為可能。該文從晶振的工作原理出發(fā),分析了振動(dòng)條件下相位噪聲惡化的調(diào)諧原理,首次提出了一種新的晶振相位噪聲振動(dòng)惡化特征的物理表征方法。此外,搭建了晶振相位噪聲測(cè)試系統(tǒng),利用實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)定量研究了各種輸入條件對(duì)晶振電氣性能的影響,并編制了相應(yīng)的算法來(lái)進(jìn)行求解,得出了非線(xiàn)性數(shù)學(xué)關(guān)系。最后,結(jié)合實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)驗(yàn)證了機(jī)電一體化分析思路及物理表征方法的合理性,得到了晶振模塊的振動(dòng)穩(wěn)健性矢量。
[Abstract]:Crystal oscillator has caused serious phase noise deterioration in the vibration environment. It has attracted wide attention due to its physical properties of multidisciplinary blending and its application value in electronic system reference sources. With the development of mechatronics design concept, it is possible to study the signal tuning mode and explore their unique physical properties in vibration environment. Based on the working principle of crystal oscillator, the tuning principle of phase noise deterioration under vibration condition is analyzed, and a new physical representation method of phase noise deterioration characteristic is proposed for the first time. In addition, the phase noise measurement system of crystal oscillator is built, and the influence of various input conditions on the electrical performance of crystal oscillator is quantitatively studied by using the experimental data, and the corresponding algorithm is developed to solve the problem, and the nonlinear mathematical relationship is obtained. Finally, the rationality of the mechatronics analysis method and the physical representation method is verified by the experimental data, and the vibration robustness vector of the crystal oscillator module is obtained.
【作者單位】: 中國(guó)電子科技集團(tuán)公司二十九研究所;西安電子科技大學(xué)機(jī)電工程學(xué)院;
【基金】:國(guó)家自然科學(xué)基金項(xiàng)目(51605452);國(guó)家自然科學(xué)基金重大研究計(jì)劃項(xiàng)目(51490660)
【分類(lèi)號(hào)】:TN752
【相似文獻(xiàn)】
相關(guān)期刊論文 前10條
1 盧平安;;晶振比對(duì)測(cè)試記分法[J];無(wú)線(xiàn)電工程;1983年01期
2 盧平安;;高穩(wěn)晶振研制工作的進(jìn)展——第三屆全國(guó)高穩(wěn)晶振比對(duì)測(cè)試綜述[J];無(wú)線(xiàn)電工程;1984年02期
3 ;第四屆全國(guó)晶振比對(duì)測(cè)試今年10月在京舉行[J];無(wú)線(xiàn)電工程;1987年04期
4 龐紹華;祝興峰;;制作晶振(晶體)檢測(cè)儀[J];家電檢修技術(shù);2001年11期
5 徐鵬;;高g值加速度作用下晶振的失效機(jī)理分析[J];中北大學(xué)學(xué)報(bào)(自然科學(xué)版);2010年04期
6 ;第四屆晶振比對(duì)測(cè)試工作將于明年10月舉行[J];無(wú)線(xiàn)電工程;1986年04期
7 張惠之;;溫補(bǔ)晶振的補(bǔ)償原理及正確使用[J];移動(dòng)通信;1993年03期
8 王冰;;檢測(cè)晶振阻抗一法[J];電氣自動(dòng)化;1996年06期
9 何振杏;;(三)測(cè)電容值不能準(zhǔn)確判斷晶振的好壞[J];家電檢修技術(shù);2000年11期
10 梁勇;鄧方林;;一種實(shí)用的晶振相位預(yù)測(cè)補(bǔ)償算法[J];彈箭與制導(dǎo)學(xué)報(bào);2003年S6期
相關(guān)會(huì)議論文 前2條
1 楊維軍;陳一杲;王楠;;SIM卡封裝晶振上方窄小空間填充解決方案[A];2010’全國(guó)半導(dǎo)體器件技術(shù)研討會(huì)論文集[C];2010年
2 張愷;黃顯核;梁s,
本文編號(hào):2117367
本文鏈接:http://sikaile.net/kejilunwen/dianzigongchenglunwen/2117367.html