本文選題：特征提取 + 模式識(shí)別　； 參考：《合肥工業(yè)大學(xué)》2017年碩士論文

【摘要】：隨著電子設(shè)備中集成電路規(guī)模和復(fù)雜度的不斷提升,系統(tǒng)功能不斷完善,同時(shí)也帶來(lái)了電路可測(cè)節(jié)點(diǎn)少、故障潛在信息難以獲取、故障診斷準(zhǔn)確率低等問(wèn)題,對(duì)電子電路故障診斷技術(shù)的可靠性研究提出更高的要求。研究電路的故障診斷技術(shù)關(guān)鍵在于實(shí)現(xiàn)有效的故障特征提取和精準(zhǔn)的故障模式識(shí)別,本文從這兩個(gè)核心方面開展電路故障診斷技術(shù)的研究,分別提出了融合LLE和MDS算法的故障特征提取技術(shù)以及基于DCQGA的優(yōu)化SVM分類器模型,并通過(guò)電路診斷實(shí)例對(duì)該方法進(jìn)行了仿真驗(yàn)證。本文主要研究?jī)?nèi)容如下:首先,研究典型電子電路的建模原理及故障特性。通過(guò)對(duì)電子電路的軟故障和硬故障的特性進(jìn)行分析,構(gòu)建電路故障模型,以故障電路可及節(jié)點(diǎn)的輸出響應(yīng)作為電路的原始多維故障特征數(shù)據(jù)。其次,提出融合線性和非線性流形學(xué)習(xí)算法的特征提取技術(shù),即基于LLE和MDS算法的故障特征提取。該融合算法可以最大限度挖掘故障數(shù)據(jù)中潛在的低維流形結(jié)構(gòu),并保持?jǐn)?shù)據(jù)的距離相似性不變,達(dá)到提取與優(yōu)化故障特征的目的。利用該算法對(duì)電路的多維故障特征數(shù)據(jù)進(jìn)行降維,結(jié)果表明降維后的故障特征分布區(qū)分性較明顯。最后,建立一種用于電子電路故障診斷的優(yōu)化分類器模型,即基于雙鏈量子遺傳算法的支持向量機(jī)分類器模型。DCQGA-SVM分類器具有雙鏈尋優(yōu)特征,可以加速尋優(yōu)過(guò)程,增加獲得全局最優(yōu)參數(shù)的概率。通過(guò)UCI公共數(shù)據(jù)庫(kù)中的兩個(gè)經(jīng)典分類數(shù)據(jù)集對(duì)分類器的可行性進(jìn)行了測(cè)試,最后以電子電路故障診斷實(shí)例對(duì)優(yōu)化改進(jìn)分類器的收斂性能和故障診斷性能進(jìn)行了驗(yàn)證。實(shí)驗(yàn)結(jié)果不僅驗(yàn)證了DCQGA-SVM良好的分類性能,而且驗(yàn)證了其在電路故障診斷中的有效性和實(shí)用性。
[Abstract]:With the improvement of the scale and complexity of integrated circuits in electronic devices, the system functions are constantly improved, and it also brings many problems, such as less measurable nodes of circuits, difficulty in obtaining potential fault information, low accuracy rate of fault diagnosis, etc. Higher requirements are put forward for the reliability research of electronic circuit fault diagnosis technology. The key to research the fault diagnosis technology of circuit is to realize effective fault feature extraction and accurate fault pattern recognition. In this paper, the research of circuit fault diagnosis technology is carried out from these two core aspects. A fault feature extraction technique based on LLE and MDS algorithm and an optimized SVM classifier model based on DCQGA are proposed respectively. The main contents of this paper are as follows: firstly, the modeling principle and fault characteristics of typical electronic circuits are studied. By analyzing the characteristics of soft and hard faults of electronic circuits, the fault model of circuits is constructed, and the output response of reachable nodes of fault circuits is taken as the original multidimensional fault characteristic data of circuits. Secondly, a feature extraction technique based on LLE and MDS is proposed, which combines linear and nonlinear manifold learning algorithms. The fusion algorithm can maximize the mining of potential low-dimensional manifold structures in fault data and keep the distance similarity of the data unchanged to achieve the purpose of extracting and optimizing fault features. The algorithm is used to reduce the dimension of the multi-dimensional fault feature data of the circuit. The results show that the fault feature distribution after dimension reduction is more distinct. Finally, an optimal classifier model for fault diagnosis of electronic circuits is established, that is, the support vector machine classifier model based on double chain quantum genetic algorithm. DCQGA-SVM classifier has the characteristics of double-chain optimization, which can accelerate the optimization process. Increase the probability of obtaining global optimal parameters. The feasibility of the classifier is tested by two classical classification data sets in UCI common database. Finally, the convergence performance and fault diagnosis performance of the improved classifier are verified by an example of electronic circuit fault diagnosis. The experimental results not only verify the good classification performance of DCQGA-SVM, but also verify the validity and practicability of DCQGA-SVM in circuit fault diagnosis.
【學(xué)位授予單位】：合肥工業(yè)大學(xué)
【學(xué)位級(jí)別】：碩士
【學(xué)位授予年份】：2017
【分類號(hào)】：TN710

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本文編號(hào)：2090241