本文選題：測(cè)試向量相容 + 低功耗測(cè)試��； 參考：《電子學(xué)報(bào)》2017年06期

【摘要】：隨著集成電路制造工藝的發(fā)展,VLSI(Very Large Scale Integrated)電路測(cè)試面臨著測(cè)試數(shù)據(jù)量大和測(cè)試功耗過(guò)高的問(wèn)題.對(duì)此,本文提出一種基于多級(jí)壓縮的低功耗測(cè)試數(shù)據(jù)壓縮方案.該方案先利用輸入精簡(jiǎn)技術(shù)對(duì)原測(cè)試集進(jìn)行預(yù)處理,以減少測(cè)試集中的確定位數(shù)量,之后再進(jìn)行第一級(jí)壓縮,即對(duì)測(cè)試向量按多掃描劃分為子向量并進(jìn)行相容壓縮,壓縮后的測(cè)試向量可用更短的碼字表示;接著再對(duì)測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行低功耗填充,先進(jìn)行捕獲功耗填充,使其達(dá)到安全閾值以內(nèi),然后再對(duì)剩余的無(wú)關(guān)位進(jìn)行移位功耗填充;最后對(duì)填充后的測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行第二級(jí)壓縮,即改進(jìn)游程編碼壓縮.對(duì)ISCAS89基準(zhǔn)電路的實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明,本文方案能取得比golomb碼、FDR碼、EFDR碼、9C碼、BM碼等更高的壓縮率,同時(shí)還能協(xié)同優(yōu)化測(cè)試時(shí)的捕獲功耗和移位功耗.
[Abstract]:With the development of integrated circuit manufacturing technology, VLSI-Very large scale integrated circuit testing is faced with the problems of large amount of test data and high power consumption. In this paper, a low power test data compression scheme based on multistage compression is proposed. In this scheme, the original test set is preprocessed by input reduction technique to reduce the number of test sets, and then the first stage compression is carried out, that is, the test vectors are divided into subvectors according to multiple scans and compatible compression is carried out. The compressed test vector can be represented by a shorter codeword, then the test data is filled with low power consumption, and the power consumption is first captured to reach the safe threshold, and then the remaining independent bits are filled with shift power consumption. Finally, the test data after filling is compressed by the second stage, that is, the improved run coding compression. The experimental results of the ISCAS89 reference circuit show that the proposed scheme can achieve a higher compression ratio than the golomb code / EFDR code / 9C code / BM code. At the same time, it can also cooperate to optimize the acquisition power consumption and the shift power consumption of the test.
【作者單位】： 合肥工業(yè)大學(xué)計(jì)算機(jī)與信息學(xué)院;合肥工業(yè)大學(xué)情感計(jì)算與先進(jìn)智能機(jī)器安徽省重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室;合肥工業(yè)大學(xué)電子科學(xué)與應(yīng)用物理學(xué)院;德島大學(xué);
【基金】：國(guó)家自然科學(xué)基金(No.61204046,No.61474035,No.61306049);國(guó)家自然科學(xué)基金重點(diǎn)項(xiàng)目(No.61432004) 高等學(xué)校博士學(xué)科點(diǎn)專項(xiàng)科研新教師基金(No.2013JYXJ0650)
【分類號(hào)】：TN407

【參考文獻(xiàn)】

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【相似文獻(xiàn)】

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本文編號(hào)：2011032