本文選題：透射電子顯微鏡 + 樣品制備��； 參考：《實驗室研究與探索》2016年07期

【摘要】：透射電子顯微鏡(Transmission Electron Microscope,TEM)具有很高的分辨率和放大倍數(shù)高,廣泛應用于實驗教學和科學研究各個領域。透射電子顯微鏡結合不同的附件(X射線能譜分析(EDS)、電子能量損失譜(EELS)),可以同時提供形貌、成分、結構信息,它可以揭示物質內部的微細觀結構,是人們了解、認識事物微觀結構不可缺少的工具。觀察透射電鏡的最終目的是得到清晰的照片,而樣品的制備是關鍵。透射電鏡樣品的制備質量,直接影響到樣品的觀察效果與分析結果。本文以JEM-2100型透射電子顯微鏡為例,從樣品制備方法的選擇、載網(wǎng)與支持膜的選用、樣品防污染措施及電鏡操作等幾方面入手,詳細地介紹高質量的透射電鏡照片的拍攝經(jīng)驗,為透射電鏡相關工作人員提供技術參考。
[Abstract]:Transmission Electron MicroscopeTem (TEM) is widely used in experimental teaching and scientific research because of its high resolution and high magnification. The transmission electron microscope (TEM) combined with different accessory X-ray energy spectra (EDS), the electron energy loss spectrum (EELS), can provide the information of morphology, composition and structure at the same time. It can reveal the microstructures inside the matter and is understood by people. An indispensable tool for understanding the microstructure of things. The final aim of TEM observation is to obtain clear photographs, and the preparation of samples is the key. The preparation quality of TEM samples has a direct effect on the observation and analysis results. Taking JEM-2100 transmission electron microscope as an example, this paper introduces the experience of taking high-quality transmission electron microscope photos in detail from the aspects of sample preparation method, selection of carrier net and supporting membrane, sample anti-pollution measures and electron microscope operation. To provide technical reference for transmission electron microscope related staff.
【作者單位】： 華南師范大學實驗中心;廣東工業(yè)大學期刊中心;
【分類號】：TN16

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本文編號：2004536