本文選題：難測(cè)固定故障 + 測(cè)試向量生成　； 參考：《微電子學(xué)與計(jì)算機(jī)》2017年04期

【摘要】：針對(duì)數(shù)字電路中難測(cè)固定故障測(cè)試向量生成效率低的問(wèn)題,基于失敗向量信息實(shí)現(xiàn)難測(cè)固定故障的測(cè)試向量生成.該方法利用難測(cè)固定故障失敗向量與成功向量在端口邏輯值上可能具有的相反屬性,以輸入端口邏輯值的概率信息量化失敗向量的特征,從而提高難測(cè)固定故障成功測(cè)試向量生成的生成概率,縮小測(cè)試向量的搜索范圍,提高了測(cè)試向量生成的效率.
[Abstract]:In order to solve the problem of low efficiency in generating test vector of difficult fixed fault in digital circuit, the test vector generation of difficult fixed fault is realized based on the information of failure vector. This method quantifies the characteristics of the failure vector by using the opposite attributes of the failure vector and the success vector on the port logic value, which can be used to input the probability information of the port logic value. Thus, the probability of generating test vector is improved, the search range of test vector is reduced, and the efficiency of test vector generation is improved.
【作者單位】： 西安交通大學(xué)電子與信息工程學(xué)院;中國(guó)電子科技集團(tuán)公司第四十一研究所;
【分類號(hào)】：TN79

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1 曾成碧,段述江,陳光，

本文編號(hào)：1998220