本文選題：制冷型紅外探測(cè)器 + f數(shù)��； 參考：《物理學(xué)報(bào)》2017年15期

【摘要】：制冷型紅外探測(cè)器f數(shù)由冷闌尺寸和位置決定,在冷闌附近加溫闌可以改變探測(cè)器f數(shù),但是會(huì)引入大量雜散輻射.為解決這一問(wèn)題,提出一種基于球面反射溫闌的紅外探測(cè)器變f數(shù)設(shè)計(jì)方法.建立了溫闌紅外輻射模型,分析普通平面溫闌引入的雜散輻射及其對(duì)探測(cè)器性能的影響.在此基礎(chǔ)上提出球面反射溫闌的設(shè)計(jì)方法,通過(guò)改變表面形狀和發(fā)射特性,降低溫闌引入的雜散輻射,以保證探測(cè)器變f數(shù)后的性能.為驗(yàn)證本文方法,設(shè)計(jì)球面反射溫闌和普通平面溫闌改變某制冷型探測(cè)器f數(shù),在高低溫試驗(yàn)箱內(nèi)進(jìn)行輻射定標(biāo)實(shí)驗(yàn)測(cè)量?jī)煞N溫闌引入的雜散輻射,比較二者對(duì)探測(cè)器的影響.分析和實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明,球面反射溫闌引入的雜散輻射遠(yuǎn)小于普通平面溫闌,引入的噪聲等效溫差也較小,能夠更好地保證紅外系統(tǒng)的成像性能.
[Abstract]:The number of cooled infrared detectors is determined by the size and position of the cold apertures. The detector f number can be changed by heating the apertures near the cold apertures, but a large amount of stray radiation will be introduced. In order to solve this problem, a design method of variable f number of infrared detector based on spherical reflection temperature aperture is proposed. The infrared radiation model of the thermal aperture is established to analyze the stray radiation induced by the ordinary plane diaphragm and its influence on the detector performance. On the basis of this, a design method of spherical reflecting temperature diaphragm is proposed. By changing the surface shape and emission characteristics, the stray radiation induced by the diaphragm is reduced, so as to ensure the performance of the detector after changing the f number. In order to verify the method in this paper, the spherical reflection aperture and the ordinary plane aperture are designed to change the f number of a refrigerated detector. The radiation calibration experiments are carried out in the high and low temperature test box to measure the stray radiation induced by the two apertures, and the effects of the two on the detector are compared. The analysis and experimental results show that the stray radiation induced by the spherical reflection temperature aperture is much smaller than that of the ordinary plane aperture, and the noise equivalent temperature difference is smaller, which can better guarantee the imaging performance of the infrared system.
【作者單位】： 中國(guó)科學(xué)院長(zhǎng)春光學(xué)精密機(jī)械與物理研究所;中國(guó)科學(xué)院大學(xué);
【分類號(hào)】：TN215

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