本文選題：數(shù)字化紅外焦平面 + 測試系統(tǒng)　； 參考：《激光與紅外》2017年10期

【摘要】：基于自行設(shè)計的TDI線列紅外焦平面數(shù)字化讀出電路,設(shè)計一款帶有驅(qū)動IRFPA器件和數(shù)字化數(shù)據(jù)采集功能的紅外焦平面測試系統(tǒng),分別進(jìn)行數(shù)字化線列讀出電路電注入方式、中波紅外焦平面和長波紅外焦平面的噪聲分析以及紅外探測器比較關(guān)心的NETD的分析,并對積分時間、焦平面陣列注入?yún)^(qū)和偏置電壓對紅外探測性能的影響做了區(qū)分論證。
[Abstract]:Based on the TDI line infrared focal plane digital readout circuit, an infrared focal plane testing system with the functions of driving IRFPA device and digital data acquisition is designed. The noise analysis of medium wave infrared focal plane and long wave infrared focal plane as well as the analysis of NETD which is concerned by infrared detector are analyzed. The effects of integral time, focal plane array injection region and bias voltage on the infrared detection performance are discussed.
【作者單位】： 中電科技集團(tuán)紅外工程技術(shù)有限公司;華北光電技術(shù)研究所;
【分類號】：TN215

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本文編號：1898489