電子元器件加速壽命試驗(yàn)技術(shù)淺析
本文選題:電子元器件 + 加速壽命試驗(yàn) ; 參考:《空間電子技術(shù)》2016年06期
【摘要】:介紹了電子元器件加速壽命試驗(yàn)的理論基礎(chǔ)及常用的幾種試驗(yàn)方法,并對幾種加速壽命試驗(yàn)方法進(jìn)行了比較。結(jié)合工作實(shí)踐中開展的電子產(chǎn)品加速壽命試驗(yàn)方案的設(shè)計(jì)與編制工作,討論了電子元器件加速壽命試驗(yàn)的幾點(diǎn)技術(shù)問題。
[Abstract]:This paper introduces the theoretical basis and several common test methods of accelerated life test for electronic components, and compares several accelerated life test methods. Based on the design and compilation of accelerated life test scheme for electronic products in practice, several technical problems of accelerated life test for electronic components are discussed.
【作者單位】: 中國空間技術(shù)研究院西安分院;
【分類號(hào)】:TN606
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,本文編號(hào):1877119
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