基于UVM的功能覆蓋率驅(qū)動(dòng)SDIO IP驗(yàn)證
本文選題:SDIO + UVM; 參考:《微電子學(xué)》2017年03期
【摘要】:在研究SDIO接口協(xié)議的基礎(chǔ)上,采用以功能覆蓋率驅(qū)動(dòng)的驗(yàn)證方法和UVM驗(yàn)證方法學(xué),構(gòu)建了一個(gè)完整的SDIO IP驗(yàn)證平臺(tái)。在自測(cè)試仿真實(shí)驗(yàn)中,通過(guò)各種測(cè)試用例,最終實(shí)現(xiàn)了功能覆蓋率的收斂。仿真結(jié)果表明,該平臺(tái)可以用于驗(yàn)證復(fù)雜的SDIO接口協(xié)議,且具有可復(fù)用性,可用于SoC系統(tǒng)的驗(yàn)證,縮短驗(yàn)證流程。
[Abstract]:Based on the research of SDIO interface protocol, a complete SDIO IP verification platform is constructed by using the function coverage driven verification method and the UVM verification methodology. In the self-test simulation experiment, the convergence of function coverage is realized through various test cases. The simulation results show that the platform can be used to verify the complex SDIO interface protocol, and can be reused to verify the SoC system and shorten the verification process.
【作者單位】: 合肥工業(yè)大學(xué)微電子設(shè)計(jì)研究所;
【基金】:國(guó)家自然科學(xué)基金資助項(xiàng)目(61204024)
【分類(lèi)號(hào)】:TN40
【參考文獻(xiàn)】
相關(guān)期刊論文 前1條
1 褚曉濱;陸鐵軍;宗宇;;結(jié)合斷言與覆蓋率為導(dǎo)向的驗(yàn)證方法[J];微電子學(xué)與計(jì)算機(jī);2008年11期
【共引文獻(xiàn)】
相關(guān)期刊論文 前10條
1 倪偉;王笑天;;基于UVM的功能覆蓋率驅(qū)動(dòng)SDIO IP驗(yàn)證[J];微電子學(xué);2017年03期
2 薛利強(qiáng);于真;;基于總線功能模型的全系統(tǒng)FPGA驗(yàn)證環(huán)境設(shè)計(jì)[J];航空發(fā)動(dòng)機(jī);2017年01期
3 李森森;張立朝;徐金甫;;一種基于斷言的高效驗(yàn)證實(shí)現(xiàn)方法[J];微電子學(xué)與計(jì)算機(jī);2014年04期
4 楊鵬飛;付修峰;;多重覆蓋率導(dǎo)向結(jié)合斷言的FPGA驗(yàn)證方法研究及應(yīng)用[J];計(jì)算機(jī)與現(xiàn)代化;2013年05期
5 王紅衛(wèi);占楊林;梁利平;;以覆蓋率為導(dǎo)向的自動(dòng)化驗(yàn)證平臺(tái)[J];電子測(cè)試;2013年05期
6 李智廣;章建雄;王玉艷;;基于覆蓋率的微處理器運(yùn)算單元驗(yàn)證技術(shù)[J];計(jì)算機(jī)工程;2012年13期
7 朱車(chē)壯;陳嵐;馮燕;;基于覆蓋率驅(qū)動(dòng)的SoC驗(yàn)證技術(shù)研究[J];微電子學(xué)與計(jì)算機(jī);2011年11期
8 劉芳;謝崢;連志斌;王新安;;一種可重構(gòu)的通用總線接口驗(yàn)證平臺(tái)的研究及實(shí)現(xiàn)[J];電子器件;2011年03期
9 姚愛(ài)紅;吳劍;張智鈞;;功能覆蓋率驅(qū)動(dòng)的TAU/MVBC模塊驗(yàn)證[J];計(jì)算機(jī)應(yīng)用研究;2011年04期
10 李洋洋;吳武臣;王龍偉;王寧;侯立剛;;基于斷言的驗(yàn)證方法在UART模塊中的應(yīng)用研究[J];微電子學(xué)與計(jì)算機(jī);2010年01期
【二級(jí)參考文獻(xiàn)】
相關(guān)期刊論文 前4條
1 王趙君;沈海華;;龍芯2號(hào)配套PCI Bridge的功能覆蓋率驗(yàn)證[J];計(jì)算機(jī)工程;2006年11期
2 張蓓莉;;微處理器基于功能覆蓋率的偽隨機(jī)驗(yàn)證方法[J];計(jì)算機(jī)與信息技術(shù);2006年04期
3 黃衛(wèi)華,朱向東,沈緒榜;一種高速USB設(shè)備控制器IP核的設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn)[J];微電子學(xué)與計(jì)算機(jī);2005年05期
4 杜慧敏,曾澤滄,韓俊剛,沈緒榜;構(gòu)造特定應(yīng)用領(lǐng)域芯片驗(yàn)證環(huán)境的方法討論[J];微電子學(xué)與計(jì)算機(jī);2004年06期
【相似文獻(xiàn)】
相關(guān)期刊論文 前2條
1 張建軍;包國(guó)鋒;馬一兵;;基于SDIO接口的通用RFID讀寫(xiě)器的開(kāi)發(fā)[J];現(xiàn)代電子技術(shù);2009年01期
2 ;[J];;年期
,本文編號(hào):1867313
本文鏈接:http://sikaile.net/kejilunwen/dianzigongchenglunwen/1867313.html