本文選題：雙偏振正交相移鍵控 + 模數(shù)轉(zhuǎn)換芯片��； 參考：《光通信技術(shù)》2017年05期

【摘要】：介紹了一種在高速相干光通信系統(tǒng)中驗證模數(shù)轉(zhuǎn)換芯片(ADC)的方法。該方法將待測ADC的數(shù)據(jù)導(dǎo)入Optisystem軟件中對112Gb/s雙偏振正交相移鍵控(DP-QPSK)的系統(tǒng)進行仿真。驗證了該方法的可行性,并對33GS/s 6比特的ADC的光信噪比(OSNR)容限測試結(jié)果進行了討論。
[Abstract]:A method to verify an analog to digital conversion chip (ADC) in a high speed coherent optical communication system is introduced. This method simulates the system of 112Gb/s dual polarization quadrature phase shift keying (DP-QPSK) in the Optisystem software to be measured in the Optisystem software. The feasibility of this method is verified and the optical signal to noise ratio (OSNR) tolerance of the 33GS/s 6 bit ADC is measured. The test results were discussed.

【作者單位】： 廈門優(yōu)迅高速芯片有限公司;
【基金】：國家863計劃(課題編號:2013AA014102)資助
【分類號】：TN792;TN929.1

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本文編號：1862406