本文選題：納米混合電路 + 缺陷無(wú)意識(shí)　； 參考：《計(jì)算機(jī)輔助設(shè)計(jì)與圖形學(xué)學(xué)報(bào)》2017年11期

【摘要】：針對(duì)CMOS/納米混合電路(CMOL)中器件高缺陷率的問(wèn)題,提出一種基于無(wú)缺陷單元區(qū)域提取的缺陷無(wú)意識(shí)容錯(cuò)映射方法.首先采用最小邏輯單元和納米二極管協(xié)同檢測(cè)加速提取出CMOL陣列中無(wú)缺陷單元所在區(qū)域;然后采用進(jìn)化算法進(jìn)行無(wú)缺陷區(qū)域的CMOL單元映射,通過(guò)設(shè)計(jì)選擇策略、適值函數(shù)以及精英策略模擬生物進(jìn)化的過(guò)程對(duì)解進(jìn)行全局搜索改進(jìn)解的質(zhì)量.實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明,該方法在求解速度和線長(zhǎng)上有較大的提升.
[Abstract]:In order to solve the problem of high defect rate in CMOS/ nano-hybrid circuits, a fault unconscious fault tolerant mapping method based on the region extraction of defect free cells is proposed. In this paper, the minimum logic unit and nanodiode cooperative detection are used to accelerate the extraction of the defect free area in CMOL array, and then the evolutionary algorithm is used to map the CMOL element of the defect free region, and the selection strategy is designed. The fitness function and elitist strategy are used to simulate the process of biological evolution and the quality of solution is improved by global search. The experimental results show that this method can improve the solution speed and line length greatly.
【作者單位】： 寧波大學(xué)信息科學(xué)與工程學(xué)院;
【基金】：國(guó)家自然科學(xué)基金(61571248)
【分類號(hào)】：TN407

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本文編號(hào)：1857080