發(fā)布時間：2018-05-05 11:50

  本文選題：可靠性 + 軟錯誤率��； 參考：《微電子學》2017年02期

【摘要】：提出了一種基于向量傳播的單粒子瞬態(tài)(SET)模擬方法�；�4值參數的模型來表征SET脈沖的形狀,建立脈沖參數傳播的數據庫。使用查找表及經驗公式來計算SET脈沖形狀參數在邏輯門節(jié)點之間的傳播。為了模擬SET脈沖在傳播過程中的重匯聚,定義了4種重匯聚模式,并給出對應的等效脈沖計算方法。提出的基于向量傳播的分析算法能夠對SET脈沖的產生、傳播及捕獲過程進行精確分析。ISCAS'89電路的實驗結果表明,該方法與Hspice仿真方法的平均誤差為1.827%,計算速度提升了1 700倍。在不損失精度的前提下,該方法可對VLSI電路在通用或特定測試向量下的可靠性進行快速自動分析。
[Abstract]:A single particle transient set method based on vector propagation is proposed. Based on the 4-valued parameter model, the shape of SET pulse is represented, and the database of pulse parameter propagation is established. The propagation of SET pulse shape parameters between logic gate nodes is calculated by using lookup table and empirical formula. In order to simulate the reconvergence of SET pulses during propagation, four reconverging modes are defined and the corresponding equivalent pulse calculation methods are given. The experimental results show that the average error between this method and the Hspice simulation method is 1.827 and the computational speed is 1 700 times higher than that of the Hspice simulation method. Without loss of precision, the reliability of VLSI circuits under general or specific test vectors can be analyzed quickly and automatically.
【作者單位】： 中國科學院電子學研究所;中國科學院大學;
【基金】：國家自然科學基金資助項目(61271149) 國家科技重大專項資助項目(2013ZX03006004)
【分類號】：TN40

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本文編號：1847575