中紅外光學(xué)元件微弱吸收實(shí)現(xiàn)微米分辨率的表征
本文選題:中紅外 + 光學(xué)元件; 參考:《中國激光》2017年07期
【摘要】:正在光電對抗、激光制導(dǎo)、環(huán)境監(jiān)測等需求的牽引下,中紅外激光系統(tǒng)的應(yīng)用日益廣泛,中紅外光學(xué)元件的吸收特性備受關(guān)注。尤其在中紅外強(qiáng)激光系統(tǒng)中,強(qiáng)光元件的吸收性能直接關(guān)系到整個激光系統(tǒng)的可靠性。目前中紅外光學(xué)元件的吸收率已降至10-6量級,難以準(zhǔn)確表征其二維吸收分布。2016年國防科學(xué)技術(shù)大學(xué)光電學(xué)院與合肥知常光電科技有限公司結(jié)合自身優(yōu)勢,分別突破了高品質(zhì)中紅外激光器技術(shù)和微弱光熱信號檢測處理技術(shù),基于光熱測量法合作研發(fā)了中紅外波段的光學(xué)元件微弱吸
[Abstract]:Due to the demands of optoelectronic countermeasure, laser guidance and environmental monitoring, the application of the mid-infrared laser system is becoming more and more extensive, and the absorption characteristics of the mid-infrared optical elements have attracted much attention.Especially in the mid-infrared intense laser system, the absorption performance of the strong light element is directly related to the reliability of the whole laser system.At present, the absorptivity of mid-infrared optical elements has been reduced to 10-6 order of magnitude, and it is difficult to accurately characterize its two-dimensional absorption distribution. In 2016, the Optoelectronic Institute of National University of National Defense and Hefei Zhichang Optoelectronic Technology Co., Ltd. combined their own advantages.The high quality mid-infrared laser technology and the weak photothermal signal detection and processing technology are broken respectively. Based on the photothermal measurement method, the weak absorption of optical elements in the mid-infrared band has been developed.
【作者單位】: 國防科學(xué)技術(shù)大學(xué)光電科學(xué)與工程學(xué)院;合肥知常光電科技有限公司;
【分類號】:TN214
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,本文編號:1750157
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