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基于IGBT模塊熱阻的狀態(tài)評估研究

發(fā)布時間:2018-04-01 18:03

  本文選題:熱阻狀態(tài)評估 切入點:模糊理論 出處:《現(xiàn)代電子技術》2017年10期


【摘要】:IGBT模塊在退化過程中內(nèi)部材料的物理屬性會發(fā)生變化,進而引起模塊結(jié)殼熱阻的變化,因此通過研究結(jié)殼熱阻的變化情況,可以對IGBT模塊的退化程度進行評估。首先研究IGBT模塊的結(jié)構(gòu)及熱擴散特性,并利用定義法計算出初始結(jié)殼熱阻,指出模塊在退化過程中各層封裝材料、物理參數(shù)及導熱面積的變化會導致結(jié)殼熱阻的變化;然后,對IGBT模塊進行了溫度循環(huán)老化試驗,并在老化過程中測量模塊的結(jié)殼熱阻,研究結(jié)殼熱阻在老化過程中的變化情況,發(fā)現(xiàn)其按指數(shù)規(guī)律退化,進而建立熱阻的指數(shù)退化模型;最后,提出一種IGBT模塊的模糊狀態(tài)評估方法,建立了基于熱阻的模糊狀態(tài)評估模型,采用均勻劃分的方法以IGBT模塊的結(jié)殼熱阻作為評估參數(shù)將模塊的退化狀態(tài)分為7個評估等級,并對老化后的某IGBT模塊進行了模糊狀態(tài)評估。
[Abstract]:The physical properties of the inner materials of IGBT module will change during the degradation process, which will cause the change of the thermal resistance of the shell. Therefore, the degradation degree of the IGBT module can be evaluated by studying the change of the thermal resistance of the shell.Firstly, the structure and thermal diffusion characteristics of IGBT module are studied, and the initial shell thermal resistance is calculated by using the definition method. It is pointed out that the change of physical parameters and thermal conductivity area of each layer of packaging material in the degradation process of the module will lead to the change of the thermal resistance of the shell.The temperature cycling aging test of IGBT module was carried out, and the shell thermal resistance of the module was measured during the aging process. The change of the shell thermal resistance in the aging process was studied. It was found that the thermal resistance degenerated according to the exponential law, and then the exponential degradation model of thermal resistance was established.Finally, a fuzzy state evaluation method of IGBT module is proposed, and a fuzzy state evaluation model based on thermal resistance is established.The thermal resistance of the crust of IGBT module is used as the evaluation parameter to divide the degradation state of the module into 7 evaluation grades, and the fuzzy state of a IGBT module after aging is evaluated.
【作者單位】: 河北工業(yè)大學電氣工程學院;
【基金】:國家科技支撐計劃(2015BAA09B01) 國家自然科學基金項目(51377044) 河北省科技計劃項目(13214303D;14214503D) 河北省科技支撐計劃項目(12212171)
【分類號】:TN322.8

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本文編號:1696660

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