本文選題：反饋電路　切入點(diǎn)：容錯(cuò)　出處：《電子與信息學(xué)報(bào)》2017年07期

【摘要】：反饋環(huán)路是模擬電路中有效容錯(cuò)的電路結(jié)構(gòu)。反饋電路也因其存儲(chǔ)性能而被廣泛使用于數(shù)字電路的時(shí)序電路中,但是反饋電路在數(shù)字電路的組合電路的穩(wěn)定特性鮮少被人研究,尤其是低功耗應(yīng)用。以馬氏隨機(jī)場為理論的MRF電路以其低功耗下的高穩(wěn)定性得到研究和關(guān)注,但其電路的反饋結(jié)構(gòu)缺乏理論支持和依據(jù),因此馬氏隨機(jī)場電路的容錯(cuò)特性未被清晰得以解釋。該文以利用概率CMOS建模概率門來分析MRF核心反饋環(huán)NAND-NAND,從理論上證明了反饋電路輸出的計(jì)算正確概率具有遞增且上有界的特點(diǎn),并數(shù)學(xué)證明了MRF的核心反饋環(huán)電路具有優(yōu)于傳統(tǒng)CMOS電路的容錯(cuò)性能。其理論推導(dǎo)結(jié)果與測試結(jié)果呈現(xiàn)一致性。
[Abstract]:Feedback loop is an effective fault-tolerant circuit structure in analog circuits. Feedback circuits are also widely used in sequential circuits of digital circuits because of their storage performance, but the stability of feedback circuits in the combination circuits of digital circuits is seldom studied. Especially for low power applications, the MRF circuits based on Markov random field theory have been studied and paid attention to for their high stability under low power consumption, but the feedback structure of the circuits lacks theoretical support and basis. Therefore, the fault-tolerant characteristics of Markov random field circuits have not been explained clearly. In this paper, we use probabilistic CMOS modeling probability gate to analyze the MRF core feedback loop NAND-NAND. it is proved theoretically that the correct calculation probability of feedback circuit output is increasing. And the characteristic of upper bound, It is proved mathematically that the core feedback loop circuit of MRF has better fault-tolerant performance than the traditional CMOS circuit, and the theoretical derivation results are consistent with the test results.
【作者單位】： 電子科技大學(xué)通信抗干擾國家級重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室;
【基金】：國家自然科學(xué)基金(61371104)~~
【分類號(hào)】：TN79

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9 朱s，

本文編號(hào)：1669169