本文關(guān)鍵詞： .D IC 傳輸線 硅通孔 重分布層 游標(biāo)法　出處：《計(jì)算機(jī)輔助設(shè)計(jì)與圖形學(xué)學(xué)報(bào)》2017年10期 　論文類型：期刊論文

【摘要】：為解決現(xiàn)有2.5D IC傳輸線測(cè)試方法適用性差、面積開銷大和分辨率不穩(wěn)定等問題,提出基于分布式游標(biāo)法的傳輸線測(cè)試方法.首先根據(jù)傳輸線的數(shù)量和分布情況擇優(yōu)選擇普通游標(biāo)和環(huán)形游標(biāo)2種游標(biāo)結(jié)構(gòu);然后把游標(biāo)延時(shí)線的所有延時(shí)單元平均分配給每條傳輸線,使所有傳輸線共享一條游標(biāo)延時(shí)線;最后將傳輸線延時(shí)量化為數(shù)字碼輸出.實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明,與現(xiàn)有方法相比,文中方法綜合考慮了測(cè)試時(shí)間和面積開銷,滿足了復(fù)雜集成電路設(shè)計(jì)的實(shí)際需要;使用2種游標(biāo)結(jié)構(gòu)的分布式測(cè)試方法面積開銷分別減少了52.6%和23.7%;在相鄰傳輸線間距離發(fā)生變化時(shí),測(cè)試分辨率的穩(wěn)定性提高了70%.
[Abstract]:In order to solve the applicability of the existing 2.5D IC transmission line test method, the problem area overhead and resolution is not stable, the test of distributed transmission line based on vernier method. According to the number and distribution of transmission line selection and ring 2 common vernier cursor cursor structure; then all delay unit vernier delay line the average assigned to each transmission line, so that all transmission lines share a vernier delay line; the transmission line delay quantization for digital output code. The experimental results show that compared with the existing methods, this method considers the test time and area overhead, to meet the actual needs of complex integrated circuit design using distributed testing method; 2 kinds of vernier structure area overhead were reduced by 52.6% and 23.7%; changes in the distance between the adjacent transmission lines, stability testing resolution increased by 70%.

【作者單位】： 合肥工業(yè)大學(xué)電子科學(xué)與應(yīng)用物理學(xué)院;合肥工業(yè)大學(xué)計(jì)算機(jī)與信息學(xué)院;
【基金】：國(guó)家自然科學(xué)基金(61674048,61574052,61371025,61474036)
【分類號(hào)】：TN402

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