本文關鍵詞： .D IC 傳輸線 硅通孔 重分布層 游標法　出處：《計算機輔助設計與圖形學學報》2017年10期 　論文類型：期刊論文

【摘要】：為解決現(xiàn)有2.5D IC傳輸線測試方法適用性差、面積開銷大和分辨率不穩(wěn)定等問題,提出基于分布式游標法的傳輸線測試方法.首先根據傳輸線的數量和分布情況擇優(yōu)選擇普通游標和環(huán)形游標2種游標結構;然后把游標延時線的所有延時單元平均分配給每條傳輸線,使所有傳輸線共享一條游標延時線;最后將傳輸線延時量化為數字碼輸出.實驗結果表明,與現(xiàn)有方法相比,文中方法綜合考慮了測試時間和面積開銷,滿足了復雜集成電路設計的實際需要;使用2種游標結構的分布式測試方法面積開銷分別減少了52.6%和23.7%;在相鄰傳輸線間距離發(fā)生變化時,測試分辨率的穩(wěn)定性提高了70%.
[Abstract]:In order to solve the applicability of the existing 2.5D IC transmission line test method, the problem area overhead and resolution is not stable, the test of distributed transmission line based on vernier method. According to the number and distribution of transmission line selection and ring 2 common vernier cursor cursor structure; then all delay unit vernier delay line the average assigned to each transmission line, so that all transmission lines share a vernier delay line; the transmission line delay quantization for digital output code. The experimental results show that compared with the existing methods, this method considers the test time and area overhead, to meet the actual needs of complex integrated circuit design using distributed testing method; 2 kinds of vernier structure area overhead were reduced by 52.6% and 23.7%; changes in the distance between the adjacent transmission lines, stability testing resolution increased by 70%.

【作者單位】： 合肥工業(yè)大學電子科學與應用物理學院;合肥工業(yè)大學計算機與信息學院;
【基金】：國家自然科學基金(61674048,61574052,61371025,61474036)
【分類號】：TN402

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本文編號：1551023