本文關(guān)鍵詞： 三維片上網(wǎng)絡(luò) 測試功耗 量子進化算法 優(yōu)體交叉 多種群　出處：《微電子學與計算機》2017年08期 　論文類型：期刊論文

【摘要】：針對在測試過程中芯片產(chǎn)生較大的熱效應(yīng)會破壞芯片的可靠性,本文在進行測試規(guī)劃獲得最短測試時間的基礎(chǔ)上,將測試時間作為約束,采用多種群改進量子進化算法優(yōu)化測試功耗,以降低測試成本,防止功耗過高造成芯片不可逆的損壞.算法中,為了避免單一種群不能保證種群多樣性,將多種群操作與算法相結(jié)合,并引入優(yōu)體交叉策略,以提高算法的全局尋優(yōu)能力.以ITC’02基準電路作為實驗對象,實驗結(jié)果表明,該算法能迅速收斂到最優(yōu)解,縮短了測試時間,提高了測試效率,并在測試時間約束下,優(yōu)化了測試功耗.
[Abstract]:The reliability of large thermal effect will damage the chip to chip in the testing process, based on the test plan to get the short test time, test time as a constraint, an improved multi swarm quantum evolutionary algorithm to optimize the test power, in order to decrease the test cost, power consumption is too high to prevent damage caused by irreversible chip algorithm. In order to avoid a single population, can not guarantee the diversity of the population, combining multiple operations and algorithms, and introduces the advantages of crossover strategy, which improves the global searching ability. With the ITC 02 benchmark circuits as the experimental object, the experimental results show that the algorithm can quickly converge to the optimal solution, shorten the test time and improve testing efficiency, and in the test under time constraints, optimize the test power.

【作者單位】： 桂林電子科技大學電子工程與自動化學院;廣西自動檢測技術(shù)與儀器重點實驗室;
【基金】：國家自然科學基金資助項目(61561012)
【分類號】：TN407;TP18

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本文編號：1541882