本文關鍵詞： FPGA SKEW 環(huán)形振蕩器 測試　出處：《微電子學與計算機》2017年06期 　論文類型：期刊論文

【摘要】：隨著FPGA規(guī)模的擴大和工作頻率的提高,時鐘Skew成為FPGA越來越重要的性能指標,而如何精確測試芯片中的時鐘Skew也就顯得尤為重要.對此以JFPGA-YX2芯片為例,介紹一種可以精確測量FPGA時鐘Skew的測試方法.將芯片內部的時鐘資源通過配置邏輯配置成一系列的環(huán)形振蕩器,每個振蕩器的振蕩頻率由該振蕩器所包含路徑的延時決定.對這些振蕩器的測量頻率值進行運算處理即可獲得精確的時鐘Skew.
[Abstract]:With the expansion of FPGA and the increase of the frequency of clock, Skew becomes more and more important performance index of FPGA, and how to accurately test the clock chip Skew is particularly important. This is based on JFPGA-YX2 chip as an example, introduces a precise measurement of FPGA clock Skew test method. The chip internal clock resources through the configuration logic configuration into a series of ring oscillator, oscillation frequency of each oscillator by the oscillator contains path delay decision. Measuring frequency of these oscillators are processed to obtain the exact value of the clock Skew.

【作者單位】： 無錫中微億芯有限公司;中國電子科技集團公司第五十八研究所;
【基金】：國家科技重大專項資助項目(2015ZX01018101-005)
【分類號】：TN791
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本文編號：1531997