本文關(guān)鍵詞：硅基光子交換芯片的路由控制與性能測試　出處：《光電子·激光》2017年09期 　論文類型：期刊論文

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【摘要】：設(shè)計了電壓輸出范圍分別是0~10V和0~2V、調(diào)節(jié)精度為10mV的可擴(kuò)展熱控電路和電控電路,用于實現(xiàn)16×16光子集成芯片的工藝誤差補(bǔ)償和光開關(guān)切換。描述了由硅(Si)基馬赫-曾德爾(MZI)光開關(guān)單元組成的16×16光子集成芯片控制過程,提出了基于光開關(guān)傳輸性能的改進(jìn)環(huán)路路由算法,此算法適用于光開關(guān)性能劣化或局部出現(xiàn)故障的情形。搭建了運行有改進(jìn)路由算法的光交換芯片測試系統(tǒng),實驗結(jié)果表明,芯片模塊的插入損耗小于33dB,串?dāng)_小于-10dB,能夠?qū)崿F(xiàn)無誤碼傳輸要求。
[Abstract]:An expandable thermal control circuit and an electronic control circuit with a voltage output range of 0V 10V and 0V 2V are designed. The adjusting precision is 10mV. Process error compensation and optical switch switching for 16 脳 16 photonic integrated chip are described. The control process of 16 脳 16 photonic integrated chip composed of optical switch cells. An improved loop routing algorithm based on the transmission performance of optical switch is proposed, which is suitable for the situation of optical switch performance deterioration or local failure. An optical switching chip test system with improved routing algorithm is built. The experimental results show that the insertion loss and crosstalk are less than 33dB and -10dBrespectively.
【作者單位】： 電子科技大學(xué)光纖傳感與通信教育部重點實驗室;
【基金】：國家自然科學(xué)基金(61271166,61671108) 教育部長江學(xué)者和創(chuàng)新團(tuán)發(fā)展計劃(IRT1218)資助項目
【分類號】：TN407
【正文快照】： 1引言光交換網(wǎng)絡(luò)由邊緣節(jié)點和光交換節(jié)點組成。邊緣節(jié)點主要完成電光轉(zhuǎn)換和數(shù)據(jù)的組裝;光交換節(jié)點離不開光開關(guān)矩陣。光開關(guān)矩陣往往由多個1×2或者2×2的開關(guān)單元以特定的拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)連接而成,而光開關(guān)單元的實現(xiàn)方式很多[1~6]。目前,商用的大規(guī)模光交換節(jié)點仍采用光-電-光轉(zhuǎn)換

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2 陳青;郝躍;蔡覺平;;基于分組網(wǎng)絡(luò)結(jié)構(gòu)NOC的蟻群路由算法[J];半導(dǎo)體技術(shù);2008年02期

3 周陽;吳寧;葛芬;李信超;;基于2D Mesh的負(fù)向優(yōu)先容錯路由算法研究[J];南京師范大學(xué)學(xué)報(工程技術(shù)版);2012年03期

4 ;通信學(xué)報2001年(第22卷)總目錄[J];通信學(xué)報;2001年12期

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本文編號：1429407