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高層次時(shí)序電路可靠度估計(jì)方法研究進(jìn)展

發(fā)布時(shí)間:2018-01-12 01:30

  本文關(guān)鍵詞:高層次時(shí)序電路可靠度估計(jì)方法研究進(jìn)展 出處:《計(jì)算機(jī)科學(xué)》2017年S2期  論文類型:期刊論文


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【摘要】:時(shí)序電路的可靠性問題日益成為人們關(guān)注的焦點(diǎn)。討論高層次時(shí)序電路的可靠性評估方法,重點(diǎn)研究分析了貝葉斯可靠性分析方法、多階段可靠性分析方法和基于概率轉(zhuǎn)移矩陣的時(shí)序電路可靠性分析方法。以ISCAS 89基準(zhǔn)電路為實(shí)驗(yàn)對象,選擇幾種典型的高層次時(shí)序電路可靠性評估方法進(jìn)行實(shí)驗(yàn)和分析。研究結(jié)果和實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明,電路的抽象級別越高,評估方法所獲得結(jié)果的準(zhǔn)確性就越低,評估時(shí)間開銷越小;同一抽象層次上,不同類型的方法相比,仿真模擬方法的準(zhǔn)確性高但時(shí)間開銷大,解析方法省時(shí)但準(zhǔn)確性較低。
[Abstract]:The reliability of sequential circuits has become the focus of attention. The reliability evaluation method of high-level sequential circuits is discussed, and the Bayesian reliability analysis method is mainly studied. Multi-stage reliability analysis method and sequential circuit reliability analysis method based on probabilistic transfer matrix. Taking ISCAS 89 reference circuit as experimental object. Several typical high-level sequential circuit reliability evaluation methods are selected for experiment and analysis. The research results and experimental results show that the higher the abstract level of the circuit, the lower the accuracy of the evaluation results. The smaller the time cost of evaluation; At the same level of abstraction, the accuracy of the simulation method is higher than that of the other methods, but the time cost of the simulation method is high, and the analytical method is time-saving but less accurate.
【作者單位】: 江西理工大學(xué)信息工程學(xué)院;
【基金】:國家自然科學(xué)基金(61561024,61462034,61563019) 江西省自然科學(xué)基金項(xiàng)目(20151BAB207035)資助
【分類號】:TN40
【正文快照】: 本文受國家自然科學(xué)基金(61561024,61462034,61563019),江西省自然科學(xué)基金項(xiàng)目(20151BAB207035)資助。歐陽城添(1975-),男,博士,副教授,碩士生導(dǎo)師,主要研究方向?yàn)橛?jì)算機(jī)系統(tǒng)結(jié)構(gòu)、電路可靠性評估,E-mail:oyct@163.com;陳莉莉(1992-),女,碩士生,主要研究方向?yàn)殡娐房煽啃栽u估

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10 蔣萬君;再論循環(huán)時(shí)序電路的簡便設(shè)計(jì)[J];機(jī)電一體化;2002年05期

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8 楊軍;葛海通;;基于BDD的時(shí)序電路等價(jià)性驗(yàn)證[A];第四屆中國測試學(xué)術(shù)會議論文集[C];2006年

9 郭苗苗;鄺繼順;;基于自反饋和LFSR的時(shí)序電路自測試研究[A];第十四屆全國容錯計(jì)算學(xué)術(shù)會議(CFTC'2011)論文集[C];2011年

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本文編號:1412127

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