本文關(guān)鍵詞：透射電鏡與掃描電鏡分析　出處：《無(wú)線互聯(lián)科技》2016年23期 　論文類(lèi)型：期刊論文

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【摘要】：文章簡(jiǎn)要介紹了透射電鏡和掃描電鏡兩種當(dāng)前主要的電子顯微分析方法的應(yīng)用,比較了它們的結(jié)構(gòu)和工作原理,討論了各自的應(yīng)用范圍以及發(fā)展方向,指出將兩者有機(jī)結(jié)合可以得到比較全面的材料分析結(jié)果。
[Abstract]:This paper briefly introduces the application of the two methods of analysis of the main current electron microscopy transmission electron microscopy and scanning electron microscopy, compare their structure and working principle, discusses the application range and the direction of development, pointed out that the combination of the two materials can get more comprehensive results.

【作者單位】： 陜西工業(yè)職業(yè)技術(shù)學(xué)院材料工程學(xué)院;
【基金】：項(xiàng)目名稱(chēng):基于材料分析與檢測(cè)技術(shù)手段的課程考核改革與應(yīng)用—材料現(xiàn)代分析測(cè)試技術(shù);項(xiàng)目編號(hào):14KCGG-001
【分類(lèi)號(hào)】：TN16
【正文快照】： 現(xiàn)如今,具有高分辨率的透射電子顯微鏡(TransmissionElectron Microscope,TEM)和掃描電鏡(Search EngineMarketing,SEM)在材料分析研究中的應(yīng)用日趨廣泛,已經(jīng)成為現(xiàn)代實(shí)驗(yàn)室中一種不可或缺的研究晶體結(jié)構(gòu)和化學(xué)成分的綜合儀器。但是,目前對(duì)其綜合分析的文章比較少見(jiàn),所以,筆者

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1 周q

本文編號(hào)：1371848