發(fā)布時(shí)間：2017-12-25 07:13

  本文關(guān)鍵詞：單脈沖激光損傷CCD探測器的有限元仿真　出處：《激光技術(shù)》2016年05期 　論文類型：期刊論文

  更多相關(guān)文章： 激光物理 CCD探測器 有限元法 損傷 閾值

【摘要】：為了研究激光對CCD探測器的損傷效應(yīng),采用有限元分析的方法進(jìn)行了激光損傷CCD的理論分析和實(shí)驗(yàn)驗(yàn)證。闡述了激光輻照CCD探測器的損傷機(jī)理,設(shè)計(jì)了激光輻照CCD探測器熱效應(yīng)的仿真模型,針對波長為532nm的高功率激光輻照硅基CCD探測器而產(chǎn)生的熱效應(yīng),利用有限元法進(jìn)行了仿真計(jì)算,得到了CCD探測器受到532nm激光輻照時(shí)硅電極的溫度曲線以及硅電極損傷時(shí)間閾值,并相應(yīng)計(jì)算出損傷CCD探測器所需要的激光能量閾值為220m J/cm2左右。結(jié)果表明,損傷閾值隨著激光功率密度的增大而減小,但變化幅度不大;當(dāng)多脈沖毫秒激光輻照CCD探測器,在一個(gè)脈沖結(jié)束、下一個(gè)脈沖到來之前,探測器溫度恢復(fù)到環(huán)境溫度。該模型可以較為準(zhǔn)確地對單脈沖激光輻照CCD探測器時(shí)產(chǎn)生的熱損傷效應(yīng)進(jìn)行模擬。
【作者單位】： 北京信息科技大學(xué)儀器科學(xué)與光電工程學(xué)院;
【分類號】：TN386.5;TN24
【正文快照】： 引言電荷耦合器件(charge-coupled device,CCD)于1969年由美國貝爾實(shí)驗(yàn)室發(fā)明,具有重量輕、靈敏度高、體積小、功耗低、分辨率高等大量優(yōu)點(diǎn),已經(jīng)廣泛應(yīng)用于軍事、民用領(lǐng)域。例如美國全球鷹無人偵察機(jī)上的電子光學(xué)/紅外線系統(tǒng),電子光學(xué)系統(tǒng)采用的是柯達(dá)數(shù)字式CCD探測器,可以實(shí)

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