本文關(guān)鍵詞：紅外焦平面探測器暗電流計算

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【摘要】：紅外焦平面探測器的暗電流一般是在零視場(即盲冷屏)條件下進(jìn)行測試,但這種測試方法必須改變組件結(jié)構(gòu),只適用于實驗室測試。介紹了一種不需要改變組件結(jié)構(gòu),僅通過基本的性能測試就可以從理論上分析計算得到紅外焦平面器件暗電流的方法。對320×256長波探測器組件的試驗結(jié)果表明,用該方法得到的暗電流結(jié)果與用盲冷屏得到的暗電流結(jié)果非常接近,可作為紅外焦平面探測器暗電流評估的快捷方法。
【作者單位】： 昆明物理研究所;
【分類號】：TN215
【正文快照】： 0引言對于紅外焦平面探測器,暗電流是制約探測器性能達(dá)到較好指標(biāo)的一個重要因素[1-5]。由于紅外焦平面探測器產(chǎn)生的光電流信號都是通過讀出電路轉(zhuǎn)化成電壓信號輸出,直接測量器件每個探測元的暗電流比較復(fù)雜。國外一般是在零視場(0FOV,即盲冷屏)條件下測試焦平面探測器的暗電

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