本文關(guān)鍵詞：一種針對(duì)FPGA密碼模塊的非侵入式故障攻擊（英文）

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【摘要】：在FPGA平臺(tái)上,利用降低電源電壓的方法使電路關(guān)鍵路徑上的數(shù)據(jù)建立失敗,從而達(dá)到注入故障的目的�；诤线m的故障模型,攻擊者可以有效地獲取密鑰信息,實(shí)現(xiàn)了針對(duì)密碼模塊的高效率、低成本的非侵入式故障攻擊方法。攻擊實(shí)驗(yàn)利用一臺(tái)電壓源和一臺(tái)個(gè)人電腦,通過(guò)8組正確和錯(cuò)誤密文對(duì),成功地恢復(fù)出一個(gè)FPGA中AES密碼模塊的128 bit完整密鑰。
【作者單位】： 北京大學(xué)信息科學(xué)技術(shù)學(xué)院微電子學(xué)研究院;國(guó)民技術(shù)股份有限公司;
【基金】：國(guó)家自然科學(xué)基金(61306040) 北京市自然科學(xué)基金(4152020) 深圳市戰(zhàn)略新興產(chǎn)業(yè)發(fā)展專(zhuān)項(xiàng)資金創(chuàng)新環(huán)境建設(shè)計(jì)劃(ZDSY20130402095348589)資助
【分類(lèi)號(hào)】：TN918.4;TN791
【正文快照】： Nowadays FPGA has become a significant devicein finance,communication and military fields due toits flexibility and performance advantages.Since thedata security is one of the most important issues inthese sensitive fields,an increasing attention has bee

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中國(guó)期刊全文數(shù)據(jù)庫(kù) 前10條

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中國(guó)重要會(huì)議論文全文數(shù)據(jù)庫(kù) 前9條

1 鄭建國(guó);張展霞;錢(qián)浩雯;蔡明向;;ICP—AES中基體連續(xù)輻射背景的研究[A];中國(guó)地質(zhì)科學(xué)院南京地質(zhì)礦產(chǎn)研究所文集（40）[C];1989年

2 李U，

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