發(fā)布時(shí)間：2017-11-19 01:17

  本文關(guān)鍵詞：某型混合集成電路長(zhǎng)期貯存壽命研究

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【摘要】：目的研究某型混合集成電路在自然環(huán)境下的貯存壽命。方法選用某型混合集成電路在A(寒溫)、B(亞濕熱)、C(亞濕熱)、D(熱帶海洋)等4地開(kāi)展為期172個(gè)月的庫(kù)房貯存試驗(yàn),跟蹤測(cè)試其性能參數(shù)增益。應(yīng)用灰色預(yù)測(cè)理論中的灰色GM(1,1)模型,對(duì)該型混合集成電路的貯存壽命進(jìn)行預(yù)測(cè),結(jié)果 D地的壽命最長(zhǎng),為32年;A地的壽命最短,為21年。結(jié)論溫度較差是增益退化的最優(yōu)影響因素。就該型混合集成電路而言,B地和C地的環(huán)境應(yīng)力對(duì)其影響無(wú)明顯差異。
【作者單位】： 中國(guó)電子產(chǎn)品可靠性與環(huán)境試驗(yàn)研究所;廣東省電子信息產(chǎn)品可靠性技術(shù)重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室;廣東省電子信息產(chǎn)品可靠性與環(huán)境工程技術(shù)研究開(kāi)發(fā)中心;中國(guó)人民解放軍77546部隊(duì);
【分類號(hào)】：TN45;V443
【正文快照】： Received:2016-07-13;Revised:2016-08-16混合集成電路具有組裝密度大、可靠性高、參數(shù)范圍寬、精度高、穩(wěn)定性好等特點(diǎn)。其使用范圍日益擴(kuò)大,已滲透到了許多工業(yè)部門(mén),主要應(yīng)用于航天電子設(shè)備、衛(wèi)星通訊設(shè)備等領(lǐng)域,在微波領(lǐng)域中的應(yīng)用尤為突出[1—5]。電子元器件是組成電子產(chǎn)

【相似文獻(xiàn)】

中國(guó)期刊全文數(shù)據(jù)庫(kù) 前10條

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