本文關(guān)鍵詞：半橋驅(qū)動芯片參數(shù)自動測試系統(tǒng)的設(shè)計

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【摘要】：半橋驅(qū)動芯片因?yàn)槠潴w積小、可靠性高等優(yōu)點(diǎn)已經(jīng)被廣泛應(yīng)用于電機(jī)驅(qū)動、高頻開關(guān)電源和電動汽車等高可靠性系統(tǒng)中。在不同的應(yīng)用系統(tǒng)中,半橋驅(qū)動芯片的參數(shù)會因其應(yīng)用環(huán)境的變化出現(xiàn)漂移,對系統(tǒng)的可靠性產(chǎn)生負(fù)面影響,所以在系統(tǒng)設(shè)計前應(yīng)對半橋驅(qū)動芯片的參數(shù)進(jìn)行準(zhǔn)確測試。而傳統(tǒng)的手工測試存在低效率、精度差和可復(fù)測性弱的缺點(diǎn),無法準(zhǔn)確的獲得芯片的各項(xiàng)性能指標(biāo),所以研究高效率、高精度的半橋驅(qū)動芯片自動測試系統(tǒng)具有重要意義。半橋驅(qū)動芯片的核心參數(shù)包括靜態(tài)參數(shù)、開關(guān)時間和dv/dt等。首先,本論文深入研究了典型的靜態(tài)參數(shù)測試方案,發(fā)現(xiàn)其最大難點(diǎn)在于參數(shù)多、儀器分立,為了提升測試效率,采用LabVIEW進(jìn)行模塊化控制以完成靜態(tài)參數(shù)的自動化測試。其次,本論文對開關(guān)時間測試電路進(jìn)行了分析,分析結(jié)果表明其寄生參數(shù)會對動態(tài)參數(shù)測試精度產(chǎn)生不利影響,造成測試波形的震蕩甚至損壞器件,因此本論文建立了包含寄生參數(shù)的測試電路模型,并利用Saber軟件進(jìn)行仿真,最終指導(dǎo)開關(guān)時間測試系統(tǒng)的設(shè)計。然后,本論文對傳統(tǒng)的dv/dt測試電路進(jìn)行改進(jìn),推導(dǎo)出滿足設(shè)計指標(biāo)的驅(qū)動電阻表達(dá)式,并給出了一種“源極開爾文接法”的dv/dt測試優(yōu)化方案。最后,本論文通過編程實(shí)現(xiàn)軟硬件結(jié)合,完成硬件的自動化控制和數(shù)據(jù)處理與分析,建立了高精度且自動化的動態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng)。本論文構(gòu)建了半橋驅(qū)動芯片的自動測試系統(tǒng),實(shí)現(xiàn)了靜態(tài)參數(shù)與動態(tài)參數(shù)的自動測試。實(shí)測結(jié)果顯示,靜態(tài)參數(shù)誤差為5%,耗時小于20分鐘,效率提升50%：動態(tài)參數(shù)誤差在5%內(nèi),耗時2分鐘,效率提升60%,dv/dt測試模塊可以提供的dv/dt高達(dá)80V/ns,各項(xiàng)性能均滿足設(shè)計指標(biāo)。
【學(xué)位授予單位】：東南大學(xué)
【學(xué)位級別】：碩士
【學(xué)位授予年份】：2016
【分類號】：TN407

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本文編號：1149620