濺射氣壓對銦錫鋅氧化物薄膜晶體管性能的影響
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【摘要】:利用射頻磁控濺射技術(shù),在不同濺射氣壓下制備了銦錫鋅氧化物薄膜晶體管(ITZO TFT),分析了ITZO TFT電學(xué)性能隨氣壓的變化規(guī)律。研究結(jié)果表明:非晶ITZO TFT的工作模式均為耗盡型;隨著氣壓的增大,亞閾值擺幅及閾值電壓先減小后增大、場效應(yīng)遷移率逐漸減小,這是由載流子濃度和界面缺陷密度兩方面因素共同決定的。濺射氣壓為0.4 Pa時(shí),ITZO TFT綜合性能最好,場效應(yīng)遷移率高達(dá)24.32 cm~2/V·s,亞閾值擺幅為1.10 V/decade,電流開關(guān)比達(dá)到10~6。此外,ITZO有源層在可見光范圍內(nèi)的平均透過率超過80%,光學(xué)帶隙值在3.2~3.4 eV之間,隨氣壓的升高先減小后增大。
【作者單位】: 山東大學(xué)空間科學(xué)與物理學(xué)院;
【基金】:山東大學(xué)(威海)研究生科研創(chuàng)新基金項(xiàng)目(yjs13029) 山東省科技攻關(guān)課題(2014GGX102022)
【分類號(hào)】:TN321.5
【正文快照】: 薄膜晶體管(TFT)作為顯示器件的核心部件, 在液晶顯示、透明顯示及有源矩陣發(fā)光二極管等方面具有廣闊的應(yīng)用前景⑴。傳統(tǒng)的非晶硅TFT和多晶硅TFT遷移率較低、均勻性差,已不能滿足液晶顯示器對大尺寸屏幕顯示和高對比度畫質(zhì)的需求[2],新型金屬氧化物TFT的電學(xué)性能優(yōu)良,其遷移率
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,本文編號(hào):1149208
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