本文關(guān)鍵詞：基于遺傳算法的BP神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)電子系統(tǒng)狀態(tài)預(yù)測方法研究

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【摘要】：BP神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)是一種應(yīng)用面較廣的神經(jīng)網(wǎng)絡(luò),但存在明顯缺陷:學(xué)習(xí)收斂速度慢,易陷入局部極小。遺傳算法具有良好的搜索全局最優(yōu)解的能力。為了提高BP神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)預(yù)測模型在狀態(tài)預(yù)測中的準(zhǔn)確性,提出了一種基于遺傳算法優(yōu)化BP神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的狀態(tài)預(yù)測方法.利用遺傳算法優(yōu)化BP神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的權(quán)值和閾值,然后訓(xùn)練BP神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)預(yù)測模型以求得最優(yōu)解,并將該預(yù)測方法應(yīng)用到Buck輸出電壓平均值進(jìn)行有效性驗(yàn)證。仿真結(jié)果表明,改進(jìn)后方法具有較好的非線性擬合能力和更高的預(yù)測準(zhǔn)確性。
【作者單位】： 海軍工程大學(xué)電子工程學(xué)院;
【關(guān)鍵詞】： BP神經(jīng)網(wǎng)絡(luò) 狀態(tài)預(yù)測 遺傳算法
【分類號(hào)】：TN06;TP18
【正文快照】： 1引言電子系統(tǒng)無法正常地完成其固有的功能或者達(dá)到設(shè)計(jì)時(shí)所規(guī)定的指標(biāo),則可以認(rèn)為其發(fā)生了故障[1]。電子系統(tǒng)通常由具備不同功能的特定功能電路組成,電路中的元器件種類繁多,其發(fā)生故障的因素有很多,例如工作環(huán)境的因素(溫度、濕度等)、人工操作造成的失誤、設(shè)備中的一些關(guān)鍵

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本文編號(hào)：1083454