發(fā)布時(shí)間：2017-09-19 18:43

  本文關(guān)鍵詞：基于紅外檢測(cè)方法的劣化絕緣子便攜式帶電檢測(cè)系統(tǒng)研發(fā)

  更多相關(guān)文章： 檢測(cè)方法 劣化絕緣子 紅外熱像 圖像處理 發(fā)熱特征 實(shí)驗(yàn)研究

【摘要】：在電網(wǎng)中廣泛使用、數(shù)量龐大的懸式瓷質(zhì)絕緣子,在長(zhǎng)期帶電運(yùn)行過(guò)程中,可能出現(xiàn)零值或低值的劣化情況。出現(xiàn)劣化絕緣子時(shí),可能造成絕緣子鐵帽炸裂、導(dǎo)線落地等嚴(yán)重后果,因此絕緣子的狀態(tài)監(jiān)測(cè)是電力部門重要工作之一。而現(xiàn)行的絕緣子檢測(cè)方法不僅工作量大而且危險(xiǎn)性高,因此為了提高檢測(cè)工作的效率和安全性,本文研發(fā)了一套基于紅外檢測(cè)方法的劣化絕緣子便攜式帶電檢測(cè)系統(tǒng),主要內(nèi)容包括以下幾方面:1、本文通過(guò)在國(guó)網(wǎng)江西省電力科學(xué)研究院人工污穢試驗(yàn)室針對(duì)絕緣子串開展的一系列試驗(yàn),驗(yàn)證了劣化絕緣子紅外檢測(cè)的可行性,獲取的數(shù)據(jù)可用于指導(dǎo)紅外檢測(cè)工作。試驗(yàn)內(nèi)容包括正常絕緣子串的發(fā)熱規(guī)律和溫升特性、劣化絕緣子的阻值、位置、環(huán)境因素等對(duì)絕緣子串發(fā)熱規(guī)律和溫升特性的影響。2、針對(duì)絕緣子紅外圖像的采集提出了拍攝過(guò)程中的注意事項(xiàng),并提供了圖片樣張。采用自適應(yīng)平滑濾波算法對(duì)灰度圖像進(jìn)行濾波去噪、采用最大類間差法進(jìn)行二值化處理、采用Hough變換對(duì)圖像進(jìn)行傾斜角度校正、采用投影統(tǒng)計(jì)法及區(qū)域定位提取算法對(duì)絕緣子圖像進(jìn)行分割。3、提出了一種基準(zhǔn)溫度特征法用于劣化絕緣子的紅外檢測(cè)與定位,在實(shí)際應(yīng)用中有較好的檢測(cè)效果,大大提高了準(zhǔn)確率,具有廣闊的工程應(yīng)用前景。4、設(shè)計(jì)了一套集編制絕緣子檢測(cè)計(jì)劃、絕緣子紅外圖像采集、紅外圖像處理、絕緣子劣化情況智能判斷及提供檢測(cè)結(jié)果為一體的基于紅外檢測(cè)方法的劣化絕緣子便攜式帶電檢測(cè)系統(tǒng)。本文的研究結(jié)果為劣化絕緣子檢測(cè)工作提供了一種非接觸式遠(yuǎn)程檢測(cè)的解決方法,達(dá)到了較高的準(zhǔn)確率,得到推廣應(yīng)用可實(shí)現(xiàn)較好的經(jīng)濟(jì)效益及社會(huì)效益。
【關(guān)鍵詞】：檢測(cè)方法 劣化絕緣子 紅外熱像 圖像處理 發(fā)熱特征 實(shí)驗(yàn)研究
【學(xué)位授予單位】：湖南大學(xué)
【學(xué)位級(jí)別】：碩士
【學(xué)位授予年份】：2015
【分類號(hào)】：TM216
【目錄】：

• 摘要5-6
• Abstract6-11
• 第1章 緒論11-18
• 1.1 研究的背景及意義11-13
• 1.1.1 研究背景11-12
• 1.1.2 研究意義12-13
• 1.2 國(guó)內(nèi)外研究現(xiàn)狀13-15
• 1.3 課題來(lái)源與主要內(nèi)容15-16
• 1.4 課題主要?jiǎng)?chuàng)新點(diǎn)16-18
• 第2章 劣化絕緣子紅外檢測(cè)相關(guān)理論18-27
• 2.1 劣化絕緣子18-19
• 2.1.1 絕緣子劣化的原因18-19
• 2.1.2 劣化絕緣子的危害19
• 2.1.3 劣化絕緣子的發(fā)熱特征19
• 2.2 紅外檢測(cè)原理及特點(diǎn)19-22
• 2.2.1 紅外檢測(cè)原理20
• 2.2.2 紅外檢測(cè)特點(diǎn)20-21
• 2.2.3 紅外熱像檢測(cè)的基本方法21-22
• 2.3 圖像處理22-26
• 2.3.1 預(yù)處理22-24
• 2.3.2 圖像分割24-26
• 2.4 本章小結(jié)26-27
• 第3章 絕緣子發(fā)熱特征實(shí)驗(yàn)室研究27-45
• 3.1 試驗(yàn)裝置和試品27-29
• 3.1.1 加壓裝置27
• 3.1.2 紅外成像測(cè)試儀27-28
• 3.1.3 熱霧系統(tǒng)28-29
• 3.1.4 試品29
• 3.2 絕緣子熱穩(wěn)定時(shí)間測(cè)試29-31
• 3.3 正常絕緣子串的電壓分布規(guī)律和溫升特征31-32
• 3.4 劣化絕緣子串的電壓分布規(guī)律和溫升特征32-38
• 3.4.1 零值絕緣子溫升特征32-34
• 3.4.2 低值絕緣子位置的影響34-35
• 3.4.3 絕緣子阻值的影響35-38
• 3.5 環(huán)境因素對(duì)絕緣子溫升特征的影響38-43
• 3.5.1 環(huán)境溫度的影響38-39
• 3.5.2 環(huán)境濕度的影響39-40
• 3.5.3 絕緣子表面污穢的影響40-42
• 3.5.4 環(huán)境風(fēng)速的影響42-43
• 3.6 檢測(cè)盲區(qū)驗(yàn)證試驗(yàn)43-44
• 3.7 本章小結(jié)44-45
• 第4章 劣化絕緣子紅外檢測(cè)的實(shí)現(xiàn)45-59
• 4.1 紅外檢測(cè)流程45
• 4.2 圖像采集輸入45-46
• 4.3 檢測(cè)中的圖像處理46-51
• 4.4 劣化絕緣子檢測(cè)方法51-57
• 4.4.1 基準(zhǔn)溫度特征法52-55
• 4.4.2 利用BP神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的劣化絕緣子識(shí)別55-57
• 4.5 現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)案例分析57-58
• 4.5.1 220kV白沙變檢測(cè)結(jié)果57-58
• 4.5.2 220kV上饒變檢測(cè)結(jié)果58
• 4.6 本章小結(jié)58-59
• 第5章 檢測(cè)系統(tǒng)功能設(shè)計(jì)與研發(fā)59-68
• 5.1 系統(tǒng)建設(shè)思路及設(shè)計(jì)原則59-61
• 5.1.1 系統(tǒng)建設(shè)目標(biāo)59
• 5.1.2 系統(tǒng)系統(tǒng)檢測(cè)流程設(shè)計(jì)59-60
• 5.1.3 系統(tǒng)設(shè)計(jì)總體原則60-61
• 5.2 系統(tǒng)技術(shù)基礎(chǔ)61-62
• 5.2.1 硬件配置及支撐軟件61
• 5.2.2 開發(fā)軟件61-62
• 5.3 系統(tǒng)功能設(shè)計(jì)62-64
• 5.3.1 工作模式62-63
• 5.3.2 系統(tǒng)功能63-64
• 5.4 系統(tǒng)展示64-67
• 5.4.1 系統(tǒng)終端及操作64-65
• 5.4.2 檢測(cè)系統(tǒng)界面65-67
• 5.5 本章小結(jié)67-68
• 結(jié)論與展望68-70
• 參考文獻(xiàn)70-75
• 致謝75-76
• 附錄A 攻讀碩士學(xué)位期間所發(fā)表的主要學(xué)術(shù)論文目錄76-77
• 附錄B 攻讀學(xué)位期間所參加的科研項(xiàng)目目錄77

【參考文獻(xiàn)】

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3 李浩;;110kV線路瓷質(zhì)絕緣子雷擊吊串事故分析[J];云南電力技術(shù);2014年03期

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5 梁流銘;馬麗軍;吳英俊;賴靖胤;肖立飛;余一棟;;紅外成像技術(shù)在電氣設(shè)備狀態(tài)檢修中的應(yīng)用[J];電工技術(shù);2014年05期

6 熊瞻;肖國(guó)強(qiáng);邱開金;;基于自適應(yīng)標(biāo)記提取和能量方程的分水嶺算法[J];計(jì)算機(jī)工程與應(yīng)用;2012年35期

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9 姜小豐;胡曉光;左廷濤;;基于ARM的絕緣子泄漏電流在線監(jiān)測(cè)系統(tǒng)設(shè)計(jì)[J];自動(dòng)化與儀表;2011年09期

10 李麗芬;朱永利;黃建才;于永華;;基于無(wú)線傳感器網(wǎng)絡(luò)的絕緣子泄漏電流在線監(jiān)測(cè)系統(tǒng)[J];電力系統(tǒng)保護(hù)與控制;2011年10期

中國(guó)碩士學(xué)位論文全文數(shù)據(jù)庫(kù) 前2條

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本文編號(hào)：883316