本文關(guān)鍵詞：嵌入式阻抗測量系統(tǒng)研究

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【摘要】：隨著科技的進(jìn)步,芯片功能的集成度越來越高,速度越來越快,體積越來越小,這相應(yīng)的也會(huì)使各種電子檢測設(shè)備、數(shù)據(jù)處理設(shè)備向嵌入式方向發(fā)展成為一種趨勢。嵌入式芯片技術(shù)的飛速發(fā)展也使得未來具有更高處理速度、更完善功能的嵌入式處理器取代PC機(jī)成為數(shù)據(jù)處理的終端成為可能。本論文所做研究就是將阻抗測量和阻抗數(shù)據(jù)分析移植到基于ARM架構(gòu)的S3C2440嵌入式處理器上完成。本課題阻抗測量采用AD5933芯片,處理器采用基于ARM架構(gòu)的S3C2440,操作系統(tǒng)為嵌入式Linux2.6.32,阻抗數(shù)據(jù)分析軟件使用QT開發(fā)。首先通過QT阻抗分析軟件設(shè)置阻抗采集芯片的工作模式,然后將采集的阻抗數(shù)據(jù)存儲(chǔ)在ARM存儲(chǔ)器中。阻抗測量結(jié)束后可使用其繪制阻抗信息的曲線,通過曲線可以分析阻抗的變化特性及規(guī)律。本課題完成的主要研究工作有：1)搭建了嵌入式交叉編譯開發(fā)平臺,完成了嵌入式Linux系統(tǒng)的移植；2)編寫了適合阻抗測量芯片的IIC驅(qū)動(dòng)；3)使用基于C++的QT庫編寫了阻抗測量分析軟件；4)成功的將阻抗測量分析軟件移植到ARM架構(gòu)的嵌入式平臺；5)通過移植觸摸屏庫,成功的將觸摸屏作為人機(jī)交互界面。通過研究本課題實(shí)現(xiàn)了嵌入式ARM平臺的數(shù)據(jù)采集及初步分析。通過觸摸屏的操作實(shí)現(xiàn)了控制阻抗測量芯片采集數(shù)據(jù)、保存數(shù)據(jù)、實(shí)時(shí)顯示采集的數(shù)據(jù)；通過內(nèi)嵌的數(shù)據(jù)處理算法,將采集的原始數(shù)據(jù)進(jìn)行處理,得到評價(jià)數(shù)據(jù)的基本指標(biāo)；能根據(jù)阻抗的范圍選擇更精確地算法處理數(shù)據(jù)；能對采集的阻抗數(shù)據(jù)在觸摸屏上繪制阻抗曲線,直觀的觀察采集重復(fù)阻抗數(shù)據(jù)的變化,能同時(shí)繪制兩條阻抗數(shù)據(jù)曲線；還能對其它平臺的采集的數(shù)據(jù)進(jìn)行格式處理后繪制U型曲線。
【關(guān)鍵詞】：ARM 嵌入式Linux 阻抗測量 QT 數(shù)據(jù)采集
【學(xué)位授予單位】：天津科技大學(xué)
【學(xué)位級別】：碩士
【學(xué)位授予年份】：2015
【分類號】：TM934.7
【目錄】：

• 摘要4-5
• ABSTRACT5-8
• 1 緒論8-13
• 1.1 本課題研究的背景、目的及意義8-11
• 1.1.1 阻抗測量技術(shù)國內(nèi)外發(fā)展概況8-9
• 1.1.2 本課題研究的目的及意義9-11
• 1.2 嵌入式阻抗測量系統(tǒng)研究理論基礎(chǔ)11
• 1.3 本課題研究目標(biāo)、內(nèi)容11
• 1.4 本論文的組織形式11-13
• 2 嵌入式阻抗測量系統(tǒng)的整體構(gòu)架與硬件平臺13-21
• 2.1 阻抗采集模塊DAS13-15
• 2.2 控制器的選擇15-17
• 2.3 控制器內(nèi)核的選擇17-19
• 2.4 整體構(gòu)架19-21
• 3 嵌入式阻抗測量系統(tǒng)軟件環(huán)境21-25
• 3.1 宿主機(jī)Linux系統(tǒng)的選擇及配置22-23
• 3.1.1 宿主機(jī)Linux系統(tǒng)的選擇22
• 3.1.2 宿主機(jī)的配置22-23
• 3.2 嵌入式Linux系統(tǒng)的選擇及配置23-25
• 4 數(shù)據(jù)采集模塊軟件實(shí)現(xiàn)25-38
• 4.1 數(shù)據(jù)采集模塊的軟件設(shè)計(jì)25-30
• 4.2 AD5933阻抗測量芯片IIC通信協(xié)議驅(qū)動(dòng)設(shè)計(jì)30-38
• 5 嵌入式阻抗測量系統(tǒng)QT阻抗分析軟件設(shè)計(jì)38-58
• 5.1 GUI圖形用戶界面設(shè)計(jì)38-41
• 5.1.1 QT簡介38-39
• 5.1.2 QT庫的選擇39-41
• 5.1.3 QT庫安裝和編譯41
• 5.2 QT阻抗分析軟件的界面41-44
• 5.2.1 QT阻抗分析軟件主界面41-42
• 5.2.2 QT阻抗分析軟件數(shù)據(jù)采集界面42-44
• 5.2.3 QT阻抗分析軟件數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換界面44
• 5.3 QT阻抗分析軟件的測試原理及曲線繪制方法44-55
• 5.3.1 QT阻抗分析軟件的測試原理45-47
• 5.3.2 Qt阻抗分析軟件曲線繪制方法47-55
• 5.4 QT測試結(jié)果與分析55-58
• 6 總結(jié)與展望58-59
• 6.1 全文總結(jié)58
• 6.2 研究展望58-59
• 7 參考文獻(xiàn)59-64
• 8 論文發(fā)表情況64-65
• 9 致謝65

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本文編號：875863