電力金具圖像故障狀態(tài)評(píng)估
發(fā)布時(shí)間:2021-09-15 11:54
電力金具是輸變電工程的關(guān)鍵部件,在溫度、風(fēng)沙等環(huán)境因素作用下,因結(jié)構(gòu)缺陷會(huì)導(dǎo)致電暈放電,最終影響輸變電線路的安全運(yùn)行�;陔姇炘囼�(yàn)工作平臺(tái),采用圖像融合和圖像處理技術(shù),對(duì)放電光斑進(jìn)行特征提取和狀態(tài)評(píng)估。研究結(jié)果表明:光斑面積與放電量呈線性關(guān)系;電力金具放電階段由電暈階段,歷經(jīng)小電弧階段,最終發(fā)展到強(qiáng)烈火花放電階段;當(dāng)增益為70%,觀測(cè)距離為10m時(shí),3個(gè)階段的放電光斑面積分別約為1000像素、5000像素和10000像素;根據(jù)紫外圖像特征,電力金具的狀態(tài)評(píng)估分為無(wú)缺陷,一般缺陷,嚴(yán)重缺陷,緊急缺陷4個(gè)狀態(tài)。該研究成果為電力金具安全評(píng)估提供技術(shù)支撐。
【文章來源】:紅外技術(shù). 2020,42(07)北大核心CSCD
【文章頁(yè)數(shù)】:5 頁(yè)
【部分圖文】:
光斑面積與觀測(cè)距離關(guān)系圖Fig.3Relationdiagramofspotareaandobservationdistance
距離近似成冪指數(shù)關(guān)系。由于實(shí)際測(cè)量過程中,觀測(cè)距離會(huì)有所變化,所以需要對(duì)其進(jìn)行歸一化處理,設(shè)定10m觀測(cè)距離為標(biāo)準(zhǔn)值,經(jīng)過大量數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)分析,可得出如下結(jié)論:1.6310o10SSd(7)2.4對(duì)比試驗(yàn)電力金具放電強(qiáng)度一般通過局部放電測(cè)試儀進(jìn)行評(píng)估,即檢測(cè)到的放電量表征電力金具放電狀態(tài)。為此,需對(duì)放電光斑面積和放電量之間的關(guān)系進(jìn)行研究,參照?qǐng)D2搭建測(cè)試環(huán)境,電力金具外接取樣電阻,通過局部放電測(cè)試儀采集放電信號(hào),對(duì)比不同電壓等級(jí)下的放電量和光斑面積,繪制曲線如圖4所示。圖4光斑面積與放電量的關(guān)系曲線Fig.4Relationcurveofspotareaanddischargecapacity通過Matlab仿真計(jì)算工具,對(duì)光斑面積和放電量的數(shù)值進(jìn)行線性擬合分析,可得:q=0.297s+879.4(8)式中:q為放電量;s為光斑面積,擬合度為0.99,所以可以證明光斑面積表征電力金具的放電強(qiáng)度是合理的。3數(shù)據(jù)分析3.1紫外圖像特征參考高壓電氣設(shè)備放電發(fā)展過程,主要由3個(gè)階段組成,如圖5所示。圖5(a)為電暈放電階段,均勻環(huán)的電暈起始電壓大約為245kV,此時(shí)電暈聲并不明顯,紫外成像儀僅能檢測(cè)到部分零星的光斑,而且放電并不穩(wěn)定。通過均壓環(huán)表面濕度的增加,放電強(qiáng)度會(huì)逐步加強(qiáng),光斑路徑會(huì)逐步擴(kuò)展,但光斑面積序列的波動(dòng)較校圖5(b)為小電弧階段,當(dāng)測(cè)試電壓達(dá)到300kV時(shí),均壓環(huán)表面會(huì)交替出現(xiàn)較大光斑和較小光斑,但大光斑持續(xù)的時(shí)間較短,一般僅持續(xù)1~5s左右。隨著濕度的增加,大光斑持續(xù)時(shí)間和發(fā)生幾率會(huì)相應(yīng)增加,會(huì)聽到明顯的放電聲音,在黑暗情況下可以看見細(xì)絲狀電弧,同時(shí)光斑面積序列的波動(dòng)較大。圖
第42卷第7期Vol.42No.72020年7月陸旭等:電力金具圖像故障狀態(tài)評(píng)估July2020635(a)電暈放電階段(b)小電弧階段(c)強(qiáng)烈火花階段(a)Coronadischargestage(b)Smallelectricarcstage(c)Strongsparkdischargestage圖5均壓環(huán)電暈放電紫外圖像Fig.5UVimageofcoronadischargeforgradingring3.2狀態(tài)評(píng)估統(tǒng)計(jì)不同濕度情況下,放電光斑面積隨電壓等級(jí)變化的曲線如圖6所示。濕度低一般指均壓環(huán)濕潤(rùn),但其下表面未聚成明顯的水滴,濕度高一般指均壓環(huán)內(nèi)外徑表面均有水膜覆蓋,同時(shí)其下表面可見較大的水滴。圖6不同濕度情況下光斑面積變化Fig.6Spotareachangesunderdifferenthumidityconditions在濕度一定的情況下,隨著電壓增加,光斑面積也相應(yīng)增加。在電壓等級(jí)一定的情況下,隨著濕度增加,光斑面積也相應(yīng)增加。經(jīng)過歸一化計(jì)算,當(dāng)增益為70%,觀測(cè)距離為10m時(shí),電暈放電階段,放電光斑面積約為1000像素;小電弧階段,放電光斑面積約為5000像素;強(qiáng)烈火花放電階段,放電光斑面積約為10000像素。低電壓等級(jí)下,金具表面僅有微弱的電暈放電時(shí),電離區(qū)域較小,屬于較安全的狀態(tài)。隨著電壓的增加,放電區(qū)域逐步擴(kuò)展,電離區(qū)域擴(kuò)大,發(fā)出清晰的放電聲,金具處于較危險(xiǎn)的狀態(tài)。待進(jìn)入強(qiáng)烈火花放電階段,放電通道增加,放電進(jìn)入危險(xiǎn)區(qū),此時(shí)進(jìn)入高危狀態(tài)。當(dāng)增益為70%時(shí),觀測(cè)距離為10m,統(tǒng)計(jì)不同類型的電力金具不同放電階段的光斑面積,電力金具安全狀態(tài)分為無(wú)缺陷,一般缺陷,嚴(yán)重缺陷,緊急缺陷4個(gè)狀態(tài),對(duì)應(yīng)的3個(gè)界限值匯總見表2。表2電力金具放電強(qiáng)度狀態(tài)評(píng)估Table2Estateevaluationfordischargeintensity
【參考文獻(xiàn)】:
期刊論文
[1]基于放電紫外成像特征的污穢線路盤形絕緣子絕緣狀態(tài)評(píng)估[J]. 王勝輝,牛雷雷,李浩,胡偉濤. 高壓電器. 2019(02)
[2]氣壓和濕度對(duì)復(fù)合電壓下?lián)Q流閥高壓電極起暈電壓影響試驗(yàn)[J]. 齊磊,符瑜科,李小萌,李靜怡,卞星明,李偉. 高電壓技術(shù). 2019(01)
[3]基于稀疏表示的絕緣子紫外圖譜閃絡(luò)狀態(tài)分類評(píng)估方法[J]. 劉云鵬,紀(jì)欣欣,裴少通,王勝輝. 高電壓技術(shù). 2018(10)
[4]線路金具沙粒磨損模擬試驗(yàn):試驗(yàn)設(shè)置與電暈分析[J]. 趙建平,鄧鶴鳴,張偉,曾文君,謝恒,蔡煒. 高電壓技術(shù). 2018(09)
[5]直流GIL絕緣子表面附著金屬顆粒局部放電發(fā)展過程及嚴(yán)重程度評(píng)估[J]. 李建波,高文勝,劉衛(wèi)東. 高壓電器. 2018(05)
[6]輸變電設(shè)備電暈放電紫外圖譜量化參數(shù)提取[J]. 李煉煉,孟剛,鄧慰,莊文兵,高旭,秦澔澔. 高壓電器. 2017(12)
[7]紫外成像圖譜參數(shù)量化提取改進(jìn)算法的研究[J]. 徐長(zhǎng)福,周廣洋,胡成博,徐家園,紀(jì)欣欣,裴少通. 智慧電力. 2017(11)
[8]基于紫外成像的高海拔分裂導(dǎo)線電暈起始特性研究[J]. 劉云鵬,周廣洋,黃世龍,陳少帥,張重遠(yuǎn). 電測(cè)與儀表. 2017(19)
[9]基于紫外成像的憎水性表面電暈起始放電研究[J]. 鄧久艷,張宏杰,李若斕. 絕緣材料. 2016(04)
[10]基于紫外成像法的絕緣子電暈放電影響因素試驗(yàn)研究[J]. 黃榮輝,張宏釗,李勛,安韻竹,伊仁圖太. 水電能源科學(xué). 2015(11)
本文編號(hào):3396033
【文章來源】:紅外技術(shù). 2020,42(07)北大核心CSCD
【文章頁(yè)數(shù)】:5 頁(yè)
【部分圖文】:
光斑面積與觀測(cè)距離關(guān)系圖Fig.3Relationdiagramofspotareaandobservationdistance
距離近似成冪指數(shù)關(guān)系。由于實(shí)際測(cè)量過程中,觀測(cè)距離會(huì)有所變化,所以需要對(duì)其進(jìn)行歸一化處理,設(shè)定10m觀測(cè)距離為標(biāo)準(zhǔn)值,經(jīng)過大量數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)分析,可得出如下結(jié)論:1.6310o10SSd(7)2.4對(duì)比試驗(yàn)電力金具放電強(qiáng)度一般通過局部放電測(cè)試儀進(jìn)行評(píng)估,即檢測(cè)到的放電量表征電力金具放電狀態(tài)。為此,需對(duì)放電光斑面積和放電量之間的關(guān)系進(jìn)行研究,參照?qǐng)D2搭建測(cè)試環(huán)境,電力金具外接取樣電阻,通過局部放電測(cè)試儀采集放電信號(hào),對(duì)比不同電壓等級(jí)下的放電量和光斑面積,繪制曲線如圖4所示。圖4光斑面積與放電量的關(guān)系曲線Fig.4Relationcurveofspotareaanddischargecapacity通過Matlab仿真計(jì)算工具,對(duì)光斑面積和放電量的數(shù)值進(jìn)行線性擬合分析,可得:q=0.297s+879.4(8)式中:q為放電量;s為光斑面積,擬合度為0.99,所以可以證明光斑面積表征電力金具的放電強(qiáng)度是合理的。3數(shù)據(jù)分析3.1紫外圖像特征參考高壓電氣設(shè)備放電發(fā)展過程,主要由3個(gè)階段組成,如圖5所示。圖5(a)為電暈放電階段,均勻環(huán)的電暈起始電壓大約為245kV,此時(shí)電暈聲并不明顯,紫外成像儀僅能檢測(cè)到部分零星的光斑,而且放電并不穩(wěn)定。通過均壓環(huán)表面濕度的增加,放電強(qiáng)度會(huì)逐步加強(qiáng),光斑路徑會(huì)逐步擴(kuò)展,但光斑面積序列的波動(dòng)較校圖5(b)為小電弧階段,當(dāng)測(cè)試電壓達(dá)到300kV時(shí),均壓環(huán)表面會(huì)交替出現(xiàn)較大光斑和較小光斑,但大光斑持續(xù)的時(shí)間較短,一般僅持續(xù)1~5s左右。隨著濕度的增加,大光斑持續(xù)時(shí)間和發(fā)生幾率會(huì)相應(yīng)增加,會(huì)聽到明顯的放電聲音,在黑暗情況下可以看見細(xì)絲狀電弧,同時(shí)光斑面積序列的波動(dòng)較大。圖
第42卷第7期Vol.42No.72020年7月陸旭等:電力金具圖像故障狀態(tài)評(píng)估July2020635(a)電暈放電階段(b)小電弧階段(c)強(qiáng)烈火花階段(a)Coronadischargestage(b)Smallelectricarcstage(c)Strongsparkdischargestage圖5均壓環(huán)電暈放電紫外圖像Fig.5UVimageofcoronadischargeforgradingring3.2狀態(tài)評(píng)估統(tǒng)計(jì)不同濕度情況下,放電光斑面積隨電壓等級(jí)變化的曲線如圖6所示。濕度低一般指均壓環(huán)濕潤(rùn),但其下表面未聚成明顯的水滴,濕度高一般指均壓環(huán)內(nèi)外徑表面均有水膜覆蓋,同時(shí)其下表面可見較大的水滴。圖6不同濕度情況下光斑面積變化Fig.6Spotareachangesunderdifferenthumidityconditions在濕度一定的情況下,隨著電壓增加,光斑面積也相應(yīng)增加。在電壓等級(jí)一定的情況下,隨著濕度增加,光斑面積也相應(yīng)增加。經(jīng)過歸一化計(jì)算,當(dāng)增益為70%,觀測(cè)距離為10m時(shí),電暈放電階段,放電光斑面積約為1000像素;小電弧階段,放電光斑面積約為5000像素;強(qiáng)烈火花放電階段,放電光斑面積約為10000像素。低電壓等級(jí)下,金具表面僅有微弱的電暈放電時(shí),電離區(qū)域較小,屬于較安全的狀態(tài)。隨著電壓的增加,放電區(qū)域逐步擴(kuò)展,電離區(qū)域擴(kuò)大,發(fā)出清晰的放電聲,金具處于較危險(xiǎn)的狀態(tài)。待進(jìn)入強(qiáng)烈火花放電階段,放電通道增加,放電進(jìn)入危險(xiǎn)區(qū),此時(shí)進(jìn)入高危狀態(tài)。當(dāng)增益為70%時(shí),觀測(cè)距離為10m,統(tǒng)計(jì)不同類型的電力金具不同放電階段的光斑面積,電力金具安全狀態(tài)分為無(wú)缺陷,一般缺陷,嚴(yán)重缺陷,緊急缺陷4個(gè)狀態(tài),對(duì)應(yīng)的3個(gè)界限值匯總見表2。表2電力金具放電強(qiáng)度狀態(tài)評(píng)估Table2Estateevaluationfordischargeintensity
【參考文獻(xiàn)】:
期刊論文
[1]基于放電紫外成像特征的污穢線路盤形絕緣子絕緣狀態(tài)評(píng)估[J]. 王勝輝,牛雷雷,李浩,胡偉濤. 高壓電器. 2019(02)
[2]氣壓和濕度對(duì)復(fù)合電壓下?lián)Q流閥高壓電極起暈電壓影響試驗(yàn)[J]. 齊磊,符瑜科,李小萌,李靜怡,卞星明,李偉. 高電壓技術(shù). 2019(01)
[3]基于稀疏表示的絕緣子紫外圖譜閃絡(luò)狀態(tài)分類評(píng)估方法[J]. 劉云鵬,紀(jì)欣欣,裴少通,王勝輝. 高電壓技術(shù). 2018(10)
[4]線路金具沙粒磨損模擬試驗(yàn):試驗(yàn)設(shè)置與電暈分析[J]. 趙建平,鄧鶴鳴,張偉,曾文君,謝恒,蔡煒. 高電壓技術(shù). 2018(09)
[5]直流GIL絕緣子表面附著金屬顆粒局部放電發(fā)展過程及嚴(yán)重程度評(píng)估[J]. 李建波,高文勝,劉衛(wèi)東. 高壓電器. 2018(05)
[6]輸變電設(shè)備電暈放電紫外圖譜量化參數(shù)提取[J]. 李煉煉,孟剛,鄧慰,莊文兵,高旭,秦澔澔. 高壓電器. 2017(12)
[7]紫外成像圖譜參數(shù)量化提取改進(jìn)算法的研究[J]. 徐長(zhǎng)福,周廣洋,胡成博,徐家園,紀(jì)欣欣,裴少通. 智慧電力. 2017(11)
[8]基于紫外成像的高海拔分裂導(dǎo)線電暈起始特性研究[J]. 劉云鵬,周廣洋,黃世龍,陳少帥,張重遠(yuǎn). 電測(cè)與儀表. 2017(19)
[9]基于紫外成像的憎水性表面電暈起始放電研究[J]. 鄧久艷,張宏杰,李若斕. 絕緣材料. 2016(04)
[10]基于紫外成像法的絕緣子電暈放電影響因素試驗(yàn)研究[J]. 黃榮輝,張宏釗,李勛,安韻竹,伊仁圖太. 水電能源科學(xué). 2015(11)
本文編號(hào):3396033
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