發(fā)布時(shí)間：2021-05-26 19:08

　　智能電表具有雙向多種費(fèi)率計(jì)量功能、用戶端控制功能以及防竊電功能等智能化功能。隨著智能電網(wǎng)的發(fā)展和普及,不同的用戶群體對(duì)智能化終端的需求也日漸增長(zhǎng)。因此,如何在智能電表制造過程中保證集成于PCB板中的RFID的讀寫不出現(xiàn)漏讀、錯(cuò)讀等質(zhì)量信息安全問題,顯得尤為重要。本文主要內(nèi)容展開如下:（1）分析了面向智能電表制造過程的工藝流程特點(diǎn)和制造過程的信息安全需求,總結(jié)了RFID現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試系統(tǒng)應(yīng)用期間存在的標(biāo)簽讀取問題。然后簡(jiǎn)要介紹了有關(guān)RFID無線射頻識(shí)別技術(shù)的基礎(chǔ)知識(shí),包括RFID系統(tǒng)的組成、電子標(biāo)簽的存儲(chǔ)器、EPC Global C1G2協(xié)議中的電子標(biāo)簽會(huì)話原理、單個(gè)電子標(biāo)簽讀過程和寫過程概述等。（2）面向智能電表的制造過程,將含有產(chǎn)品信息的RFID電子標(biāo)簽集成于智能電表的PCB板中,針對(duì)電子標(biāo)簽使用中易出現(xiàn)的漏讀、漏寫現(xiàn)象,從影響電子標(biāo)簽讀寫的內(nèi)部因素和外部因素兩方面入手,對(duì)單標(biāo)簽的讀寫方法展開了研究和測(cè)試。利用DOE（Design of Experiment,試驗(yàn)設(shè)計(jì)）技術(shù),在實(shí)驗(yàn)室環(huán)境下模擬制造現(xiàn)場(chǎng)搭建測(cè)試平臺(tái),選取部分外部環(huán)境因素和內(nèi)部因素即讀寫器內(nèi)部屬性進(jìn)行了測(cè)試。得到了最佳讀寫環(huán)境... 

【文章來源】：中國(guó)計(jì)量大學(xué)浙江省

【文章頁(yè)數(shù)】：81 頁(yè)

【學(xué)位級(jí)別】：碩士

【文章目錄】：
致謝
摘要
abstract
1 緒論
    1.1 課題研究背景及意義
        1.1.1 研究背景
        1.1.2 研究意義
    1.2 國(guó)內(nèi)外研究現(xiàn)狀分析
    1.3 論文主要研究?jī)?nèi)容
        1.3.1 關(guān)鍵技術(shù)
        1.3.2 創(chuàng)新點(diǎn)
    1.4 論文組織結(jié)構(gòu)
2 智能電表制造工藝流程分析及標(biāo)簽通訊研究
    2.1 智能電表制造工藝流程
    2.2 電子標(biāo)簽應(yīng)用背景介紹
        2.2.1 單標(biāo)簽讀寫應(yīng)用背景
        2.2.2 多標(biāo)簽讀寫應(yīng)用背景
    2.3 PCB集成化RFID系統(tǒng)簡(jiǎn)介
        2.3.1 讀寫器
        2.3.2 天線
        2.3.3 PCB集成化RFID電子標(biāo)簽
        2.3.4 電子標(biāo)簽的存儲(chǔ)器
    2.4 標(biāo)簽通訊原理及過程
        2.4.1 EPCGlobalC1G2協(xié)議會(huì)話原理
        2.4.2 讀過程
        2.4.3 寫過程
    2.5 本章小結(jié)
3 基于DOE的單標(biāo)簽讀寫環(huán)境優(yōu)化測(cè)試
    3.1 單標(biāo)簽影響因子分析
    3.2 基于DOE的讀寫環(huán)境優(yōu)化測(cè)試
        3.2.1 正交試驗(yàn)設(shè)計(jì)
        3.2.2 測(cè)試環(huán)境搭建
        3.2.3 ISO/IEC測(cè)試相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)
        3.2.4 測(cè)試方法及過程
    3.3 測(cè)試結(jié)果分析
        3.3.1 直觀分析
        3.3.2 方差分析
    3.4 試驗(yàn)驗(yàn)證
    3.5 本章小結(jié)
4 基于DOE的多標(biāo)簽讀寫參數(shù)優(yōu)化測(cè)試
    4.1 多標(biāo)簽讀寫解決方案
        4.1.1 防碰撞算法
        4.1.2 底層協(xié)議編碼
        4.1.3 讀寫器內(nèi)部屬性
    4.2 基于DOE的讀寫參數(shù)優(yōu)化測(cè)試
        4.2.1 確立試驗(yàn)指標(biāo)及主要因素
        4.2.2 正交表的選取
        4.2.3 測(cè)試環(huán)境的搭建
        4.2.4 測(cè)試方法及過程
    4.3 測(cè)試結(jié)果分析
    4.4 試驗(yàn)驗(yàn)證
    4.5 本章小結(jié)
5 總結(jié)與展望
    5.1 總結(jié)
    5.2 展望
參考文獻(xiàn)
附錄A 讀寫器內(nèi)部部分功能屬性表
作者簡(jiǎn)介


【參考文獻(xiàn)】：
期刊論文
[1]智能電能表的現(xiàn)場(chǎng)快速校驗(yàn)方法探究[J]. 孫云霞.  電子測(cè)試. 2017(13)
[2]超高頻射頻識(shí)別標(biāo)簽性能測(cè)試的研究[J]. 劉科亮.  電子質(zhì)量. 2017(04)
[3]一種射頻識(shí)別自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的設(shè)計(jì)方案[J]. 朱晨,陳成新,李智.  物聯(lián)網(wǎng)技術(shù). 2016(11)
[4]RFID預(yù)付費(fèi)智能電表系統(tǒng)中存在的安全問題及應(yīng)對(duì)措施[J]. 焦永泰.  科技資訊. 2015(30)
[5]單相智能電表生產(chǎn)工藝流程[J]. 李宏新,陳環(huán)環(huán).  科技展望. 2015(26)
[6]電能表制造業(yè)在新形勢(shì)下的發(fā)展[J]. 張俊濤,田甜.  智慧工廠. 2016(01)
[7]RFID多標(biāo)簽識(shí)別防碰撞算法的研究與分析[J]. 陳鴻俊.  電子測(cè)試. 2015(23)
[8]射頻識(shí)別系統(tǒng)多標(biāo)簽防碰撞算法[J]. 張繼榮,江馳,劉亞麗.  西安郵電大學(xué)學(xué)報(bào). 2015(06)
[9]基于多進(jìn)制查詢樹的多標(biāo)簽識(shí)別方法[J]. 王心妍,楊博.  計(jì)算機(jī)工程. 2015(08)
[10]物聯(lián)網(wǎng)射頻識(shí)別系統(tǒng)的技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)與關(guān)鍵測(cè)試方法[J]. 朱晨,周晨霞,李智.  電信工程技術(shù)與標(biāo)準(zhǔn)化. 2015(08)

博士論文
[1]RFID系統(tǒng)安全體系架構(gòu)與關(guān)鍵技術(shù)研究[D]. 張兵.電子科技大學(xué) 2014
[2]超高頻射頻識(shí)別系統(tǒng)的關(guān)鍵技術(shù)研究[D]. 軒秀巍.天津大學(xué) 2012
[3]UHF RFID多標(biāo)簽防碰撞算法的研究與性能分析[D]. 栗華.山東大學(xué) 2011

碩士論文
[1]RFID系統(tǒng)多標(biāo)簽防撞與安全關(guān)鍵技術(shù)的研究[D]. 胡應(yīng)夢(mèng).江西理工大學(xué) 2016
[2]基于18000-6C協(xié)議的UHF RFID時(shí)隙ALOHA防碰撞算法研究[D]. 馮鑫.天津工業(yè)大學(xué) 2016
[3]UHF RFID標(biāo)簽反射特性的研究與測(cè)試[D]. 李帥.上海大學(xué) 2015
[4]UHF多標(biāo)簽識(shí)別及防沖突算法的研究[D]. 喬聰.內(nèi)蒙古科技大學(xué) 2014
[5]面向物聯(lián)網(wǎng)的RFID系統(tǒng)防碰撞技術(shù)研究[D]. 潘再興.吉林大學(xué) 2014
[6]超高頻無源RFID多標(biāo)簽防碰撞算法性能分析與優(yōu)化[D]. 張留洋.江西理工大學(xué) 2014
[7]基于信息物聯(lián)的智能電能表生產(chǎn)數(shù)據(jù)采集與處理系統(tǒng)研制[D]. 王孟艷.山東大學(xué) 2014
[8]RFID的多標(biāo)簽安全認(rèn)證協(xié)議研究[D]. 張淏湜.揚(yáng)州大學(xué) 2014
[9]基于自主標(biāo)準(zhǔn)的RFID標(biāo)簽性能測(cè)試方法研究與實(shí)現(xiàn)[D]. 馬廣.國(guó)防科學(xué)技術(shù)大學(xué) 2014
[10]基于RFID無線射頻技術(shù)的現(xiàn)代實(shí)驗(yàn)室管理系統(tǒng)的設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn)[D]. 徐苑博.電子科技大學(xué) 2014



本文編號(hào)：3206907