以晶體硅太陽電池背面套印圖形為研究對象,通過設計背電場和背電極套印方式以及背電極圖形,對背面不同套印圖形的接觸電阻、電池的電性能和組件性能進行研究。研究結果表明:背面鋁背場和銀電極在重疊面積為4.35%,且背電極蜈蚣腳間距為1 mm時的接觸電阻最小,電池效率提升最大,同時組件輸出功率增益最多。該研究為晶體硅太陽電池背面套印圖形設計和背電極圖形的優(yōu)化提供指導。 

【文章來源】：太陽能學報. 2020,41(09)北大核心EICSCD

【文章頁數(shù)】：6 頁

【文章目錄】：
0 引言
1 實驗
    1.1 實驗設計
    1.2 背電極和背電場套印設計
    1.3 接觸方阻測試方法
2 結果與討論
    2.1 背電極與背電場接觸電阻
    2.2 背面套印圖形對電池性能的影響
    2.3 背面套印圖形對組件性能的影響
3 結論



本文編號：3194680