絕緣子表面放電過程能量交換形式復雜,難以準確計算,絕緣子表面污閃尚未有準確的檢測方法。為深入分析絕緣子表面放電過程,探索放電檢測新方法,該文通過流注擊穿理論和量子躍遷能量概率結(jié)合,研究絕緣子表面放電過程能量變化特征。從微觀粒子能級的角度分析能量的輸入與輸出形式,結(jié)合流注理論對絕緣子臨界擊穿場強進行計算;將量子躍遷概率等效為統(tǒng)計意義下的比例,結(jié)合能級躍遷和微�；瘜W成分,從電離和躍遷的角度,提出放電能量的理論估算新方法。通過多組實驗發(fā)現(xiàn),理論估算的體系能量變化約為實測值的70%～80%,能在一定程度上定量描述污穢絕緣子表面流注放電體系的能量變化。 

【文章來源】：電工技術(shù)學報. 2020,35(17)北大核心EICSCD

【文章頁數(shù)】：8 頁

【參考文獻】：
期刊論文
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碩士論文
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本文編號：3128466