電子產(chǎn)品是實(shí)現(xiàn)設(shè)備自動化、智能化的關(guān)鍵紐帶,電源系統(tǒng)作為保障電子產(chǎn)品運(yùn)行的直接動力來源,一旦退化失效,將導(dǎo)致整機(jī)癱瘓,造成巨大的經(jīng)濟(jì)損失。目前,國內(nèi)外對電源系統(tǒng)的退化失效模式分析開展了廣泛的研究,但是在某些特殊環(huán)境,特別是處于核輻射環(huán)境下的退化失效分析以及可靠性評估十分匱乏。因此,本文圍繞多路輸出電源系統(tǒng)開展了核輻射環(huán)境下的退化分析及可靠性評估工作,致力于構(gòu)建一套系統(tǒng)硬件開發(fā)、試驗(yàn)方案設(shè)計(jì)、摸底試驗(yàn)探索以及理論分析的完整可靠性評價(jià)體系。基于前期對自主設(shè)計(jì)的電源系統(tǒng)在輻照環(huán)境下的3組摸底試驗(yàn)發(fā)現(xiàn),該電源系統(tǒng)中有源器件對核輻射應(yīng)力十分敏感,是導(dǎo)致有源器件退化失效的主要原因。然而,迫于試驗(yàn)周期和經(jīng)濟(jì)成本等因素的制約,整個評估體系將面臨電源系統(tǒng)組件未能完全失效、試驗(yàn)對象數(shù)量有限、退化數(shù)據(jù)樣本較少等一系列問題。針對上述問題,本文的主要研究內(nèi)容簡述如下:（1）電源系統(tǒng)輻照試驗(yàn)方案設(shè)計(jì)試驗(yàn)方案設(shè)計(jì)是電源系統(tǒng)摸底試驗(yàn)和可靠性評估的基本工作。本文基于有限的試驗(yàn)條件和成本,提出了一套切實(shí)可行的試驗(yàn)方案,該方案主要包括系統(tǒng)退化試驗(yàn)和系統(tǒng)失效判據(jù)試驗(yàn)兩個子方案。本方案將遵循從部件到子系統(tǒng)再到系統(tǒng)的原則,充分利... 

【文章來源】：電子科技大學(xué)四川省 211工程院校 985工程院校 教育部直屬院校

【文章頁數(shù)】：100 頁

【學(xué)位級別】：碩士

【部分圖文】：

多路輸出電源系統(tǒng)實(shí)物圖

接以 12V 作為輸入，同時(shí)它還需要使能信號，使能信號將作為電源電路組件入端之一由后續(xù)組件 CPU 給出。此電路組件中需要監(jiān)測的信號分別為圖中電源輸出的電壓值。針對此電路組件各供電電路的需求，其電路原理框架如圖 3-3 所示。5V to 3.3V(AP1117E33)5V to 1.5V(AP1117E15)5V to 3.3V(AP1117E33)5V to 1.8V(AP1117E18)5V to 1V(NCP1529MUTBG)12V to 5V(TPS54328DDA)12V to 5V(TPS54328DDA)鋰電池12V@2.0A使能2CPUFPGA5V測試端PCC_1.5VFPGA_3.3VFPGA_1.8VFPGA_1V馬達(dá)驅(qū)動電路PCC_3.3V圖 3-3 電源轉(zhuǎn)換電路原理框架圖由圖 3-3 可知，該電源系統(tǒng)由兩級轉(zhuǎn)換構(gòu)成。其中第一級電壓轉(zhuǎn)換電路（ 5V）如圖 3-4 所示。

第三章 電源系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)組成及試驗(yàn)分析片設(shè)計(jì)本身具有使能端，即 EN 端口（高電平有效），但是由于時(shí)不需要使能信號，12V 輸入后直接輸出 5V 電壓，故此處將把 輸入端相連。第一級電壓轉(zhuǎn)換之后，該電路需要向 CPU 供電，通常 CPU 將需 3-5 所示。其中 PPC_3.3V 端和 PPC_1.5V 端，分別由 AP1115 兩個芯片實(shí)現(xiàn) 5V 轉(zhuǎn) 3.3V 以及 5V 轉(zhuǎn) 1.5V 功能。這兩個芯片都器件。第一級電壓轉(zhuǎn)換之后，該電路還承擔(dān)著向 FPGA 供電的任務(wù)。典型電路中，F(xiàn)PGA 將需要 3 路供電，即 FPGA_3.3V 端、FPGA_1V 端，分別由 AP1117E33、AP1117E18 和 NCP1529MUTBG 轉(zhuǎn) 3.3V、5V 轉(zhuǎn) 1.8V 和 5V 轉(zhuǎn) 1V 功能。其中，AP1117E33 和 A片都屬于 LDO 線性穩(wěn)壓器件，而 NCP1529MUTBG 屬于 Buck

【參考文獻(xiàn)】：
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本文編號：2950333