設(shè)計(jì)的RCD檢測儀校準(zhǔn)裝置,融合應(yīng)用測量控制技術(shù)、計(jì)算機(jī)技術(shù)和網(wǎng)絡(luò)技術(shù),實(shí)現(xiàn)自動化、智能化校準(zhǔn),并通過網(wǎng)絡(luò)傳輸數(shù)據(jù),徹底解決了傳統(tǒng)方法復(fù)雜化、效率低、數(shù)據(jù)不能自動保存的弊端。該裝置擴(kuò)大了剩余電流測量范圍,提高電流測量分辨力,保證開關(guān)定時(shí)精確控制,并實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)網(wǎng)絡(luò)傳輸。為廣大保護(hù)器生產(chǎn)和使用企業(yè)提供權(quán)威的檢測數(shù)據(jù)和技術(shù)支撐。 

【文章來源】：計(jì)量技術(shù). 2019年06期 第14-19頁

【文章頁數(shù)】：6 頁

【文章類型】：期刊

【部分圖文】：

ＲCD檢測儀校準(zhǔn)裝置系統(tǒng)組成框圖

2019年第6期·15·2主體電路及主要單元電路設(shè)計(jì)2.1ＲCD檢測儀校準(zhǔn)裝置主體電路結(jié)構(gòu)ＲCD檢測儀校準(zhǔn)裝置主體電路結(jié)構(gòu)如圖2所示。圖2ＲCD檢測儀校準(zhǔn)裝置主體電路結(jié)構(gòu)2.2主要單元電路2.2.1主控處理單元電路ＲCD檢測儀校準(zhǔn)裝置的設(shè)備主控處理單元起著協(xié)調(diào)管理校準(zhǔn)裝置各硬件單元電路與軟件程序算法數(shù)據(jù)處理的作用。其主控單元選用STM32F103作為主控處理器，外圍電路包括:時(shí)鐘ＲTC電路、USB轉(zhuǎn)串口電路、觸控液顯接口電路、U8300通信模塊電路、數(shù)據(jù)存儲電路和聲光報(bào)警電路等。本設(shè)計(jì)中所選用的STM32F103VC芯片，硬件資源豐富，由于本系統(tǒng)中需要使用3個(gè)串口，此款芯片帶有四個(gè)串口，滿足設(shè)計(jì)使用需求。該芯片［7－8］具有豐富的內(nèi)存資源以及高速時(shí)鐘，可以更好、更快地執(zhí)行本裝置中測量系統(tǒng)部分的剩余電流測量算法。2.2.2采樣與開關(guān)電路及時(shí)間測量ＲCD檢測儀校準(zhǔn)裝置的采樣單元中選配高精度低溫漂電阻，該電阻最大允許誤差要達(dá)到±0.05%，電阻功率要求5W，溫度系數(shù)優(yōu)于±0.0025%/℃;校準(zhǔn)裝置的高速開關(guān)部分選擇IＲF-PS40N50L，該MOS管具有低內(nèi)阻、開關(guān)速度快、耐高壓的特點(diǎn)。由于測量信號是交流信號，所以，開關(guān)電路設(shè)計(jì)需要使用兩個(gè)MOS管，以采樣互補(bǔ)形式連接，保證正負(fù)半周的電流信號都可以導(dǎo)通。因數(shù)字信號與模擬信號需要隔離，所以，開關(guān)信號采用光耦元件來傳遞。ＲCD檢測儀校準(zhǔn)裝置的采樣與開關(guān)電路設(shè)計(jì)如圖3所示。圖3采樣與開關(guān)電路ＲCD檢測儀校準(zhǔn)裝置的時(shí)間測量電路相關(guān)參數(shù)指標(biāo)，實(shí)現(xiàn)方面可由單片機(jī)處理器完成，但是兼顧考慮到單片機(jī)的定時(shí)器特性，其測量時(shí)間的精度本身存在誤差，同時(shí)易受其他程序影響。當(dāng)單片機(jī)處理任務(wù)較多的情況下，對測量時(shí)間精度?

2.2.2采樣與開關(guān)電路及時(shí)間測量ＲCD檢測儀校準(zhǔn)裝置的采樣單元中選配高精度低溫漂電阻，該電阻最大允許誤差要達(dá)到±0.05%，電阻功率要求5W，溫度系數(shù)優(yōu)于±0.0025%/℃;校準(zhǔn)裝置的高速開關(guān)部分選擇IＲF-PS40N50L，該MOS管具有低內(nèi)阻、開關(guān)速度快、耐高壓的特點(diǎn)。由于測量信號是交流信號，所以，開關(guān)電路設(shè)計(jì)需要使用兩個(gè)MOS管，以采樣互補(bǔ)形式連接，保證正負(fù)半周的電流信號都可以導(dǎo)通。因數(shù)字信號與模擬信號需要隔離，所以，開關(guān)信號采用光耦元件來傳遞。ＲCD檢測儀校準(zhǔn)裝置的采樣與開關(guān)電路設(shè)計(jì)如圖3所示。圖3采樣與開關(guān)電路ＲCD檢測儀校準(zhǔn)裝置的時(shí)間測量電路相關(guān)參數(shù)指標(biāo)，實(shí)現(xiàn)方面可由單片機(jī)處理器完成，但是兼顧考慮到單片機(jī)的定時(shí)器特性，其測量時(shí)間的精度本身存在誤差，同時(shí)易受其他程序影響。當(dāng)單片機(jī)處理任務(wù)較多的情況下，對測量時(shí)間精度控制將產(chǎn)生較大影響。因此，采用CPLD方式來實(shí)現(xiàn)，CPLD

【參考文獻(xiàn)】：
[1]FDD-LTE技術(shù)和規(guī)劃設(shè)計(jì)方法研究[J]. 章文卿.  無線互聯(lián)科技. 2015(08)
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[5]RDC剩余電流保護(hù)裝置測試儀概述及校準(zhǔn)[J]. 孫堅(jiān),葉佳旻.  工業(yè)計(jì)量. 2010(S2)
[6]RCD剩余電流保護(hù)裝置測試儀校準(zhǔn)方法[J]. 魏武.  電子質(zhì)量. 2008(11)

[1]漏電保護(hù)特性試驗(yàn)技術(shù)及其裝置的研究[D]. 閆偉.河北工業(yè)大學(xué) 2011

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本文編號：2894898